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SPC统计过程控制(SPC统计量介绍) 北京钢冶联信息科技有限公司 * 第一页，共二十页。 常用统计量 Mean:(平均值) Max:(最大值) Min:(最小值) Range:(Max－ Min最大跨距) StdDev标准差 Cp:(过程能力指数) Cr:(过程能力比值 ) k:(偏移系数 ) Cpu:(上限过程能力指数 ) Cpl:(下限过程能力指数 ) Cpk:(过程能力指数 ) Cpm:(目标能力指数) Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平) Fpu(Cap): (超出规格上限机率) * 第二页，共二十页。 常用统计量 Fpl(Cap):(超出规格下限机率) Fp(Cap):(超出规格限的机率) Pp:(过程性能指数 ) Pr:(过程性能比值 ) Ppu:(上限过程性能指数 ) Ppl:(下限过程性能指数 ) Ppk:(过程性能指数 ) Ppm:(目标过程性能指数) Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平) Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平) Fpu(Perf):(超出规格上限机率) Fpl(Perf):(超出规格下限机率) Fp(Perf): (超出规格界线的机率) Skewness:(偏度) Kurtosis:(峰度) * 第三页，共二十页。 计算公式 2、Max最大值 3、Min最小值 4、Range最大跨距 1、Mean均值 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4 * 第四页，共二十页。 计算公式 6、Cp:(过程能力指数) 7、Cr:(过程能力比值 ) 5、StdDev标准差 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求 例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算CP CP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42 例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算Cr Cr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4 * 第五页，共二十页。 计算公式 8、k:(偏移系数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,试计算K K=(40.2-40))/((40.5-39.5)/2)=0.4 评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标! 规格中心M 产品均值μ 规格宽度T K越大说明产品均值偏离中心值越远; * 第六页，共二十页。 计算公式 规格下限LSL 产品均值μ 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中 9、Cpu:(上限过程能力指数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu; Cpu =(40.5-40.2))/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25 ※Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少; * 第七页，共二十页。 计算公式 10、Cpl:(下限过程能力指数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl; Cpl =(40.2-39.5))/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58 规格下限LSL 产品均值μ 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中 ※Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少; * 第八页，共二十页。 计算公式 12、Cpm:(目标能力指数) 11、Cpk:(修正的过程能力指数 ) Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk; Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25 或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25 例:产品规格为(40±0.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm; Cpm=1/2.4=0.42 * 第九页，共二十页。 计算公式 产品均值μ 规格上限USL 13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) Zu(Cap)表示产品均值离 规格上限有多少倍标准差? 也表示为几个SIGMA * 第十页，共二十页。 计算公式 产品均值μ 规格上限USL Zl(Cap)表示产品均值离 规格下限有多