基于数字平板探测器的高能X射线成像实验研究.pdfVIP

维普资讯 第29卷第6期 光 学 技 术 V01．29No．6 2003年 11月 OPTICAL~ CHNIQUE Nov． 2003 文章编号 ：1002．1582(2003)06—0660—04 基于数字平板探测器的高能x射线成像实验研究 肖永顺 ，陈志强 ，张丽 ，康克军 (清华大学 工程物理系，北京 100084) 摘 要：为 了将数字平板探测器应用到高能 x射线成像无损检测 ，通过实验研究了平板探测器的噪声和动态范围。 设计 了基于平板探测器的高能 x射线成像系统。通过实验研究了电子直线加速器对数字平板探测器图像采集 的束流 触发同步问题 。 关 键 词 ：数字平板探测器；数字 x射线照相 ；同步触发 中图分类号 ： 51 文献标识码：A ExperimentresearchonhigllenergyX-rayradiography basedon digitalflat．paneIdetector XIAOYong-shun，CHENZhi-qiang，ZHANGLi，KANGKe-jun (DepartmentofEngineeringPhysics，TsinghuaUniversity，Beijing 100084，China) Abstract：InordertoapplydigitaIfiat—paneldetectortohighenergyX—rayradiographynondestructivetesting ，theexperi— mentsareusedtoresearchonthenoiseanddynamicrangecharacters．ThedesignofhighenergyX—rayradiographysystem basedOiltheflat-panddetcetorispresented．ExperimentresearchOntheproblemsofsynchronizedtriggerbetweenaccelerator nadflat-paneldetceotrisalsodiscussed． Keywords：digit~flat--paneldetceotr；digitalX·r·ayradiography；synchronizedtrigger 获得了很好的评价_1J，但是在高能脉冲束流 X射线 I 引 言 成像系统中的应用研究却很少，有关的文献资料也 在工业生产中，采用 x射线无损检测技术对关 非常少 ，仍需要做进一步的分析和实验研究。 键零部件进行质量检验是一个重要的生产环节。以 为了将数字平板探测器有效地应用于电子直线 往的x射线成像系统大多采用 x光机或者 同位素 加速器成像系统 中，本文对需要重点解决的两个问 源 ，这在检测工件的尺寸方面受到射线源能量的限 题作了分析和实验研究：一是通过照射剂量的计算 ， 制 ，检测厚度仅为几毫米到 10cm；若使用胶片或者 对平板探测器在高能 x射线成像 中的噪声和动态 闪烁屏 (图像增强器)和 CCD相机获取辐射图像 ，则 范围进行了分析 ；二是研究 了电子直线加速器脉冲 在检测速度和图像质量方面又是不理想的。 束流与数字平板探测器图像采集的触发同步问题。 随着微电子技术和材料科学的发展，数字平板 通过实验研究，为基于数字平板探测器的高能 x射 X射线探