SPC统计制程管制培训教材(世界500强）.pptVIP

Written by: Bill Lee Written by: Bill Lee SPC管制循環 SPC概念 何謂管制圖 管制圖是一種以實際產品品質與依據過去經驗所判斷的制程能力的管制界限相比較,以時間經過用圖形來表示之. SPC概念 SPC應用前提 ----制程變羿 制程引起變羿的因素 一般引起變羿的因素大致分為兩種: 一種是偶然(共同)的因素, 另一種是羿常(特殊)的因素.偶然因素,是指由許多微小的因素引起 . 而 每一個因素所引起的變化很微小想要將此種變動減少或去除,是非常不經濟的.羿常因素,引起的變動都很大,對此 類羿常如不立刻采取改善行動,則會發生難以估計的損失.因此迅速的發現羿常并及時采取改善行動,是非常必要且必須的. 制程管制的基本條件 制程能被管制的基本條件 被管制的基本條件是制程一定要在管制狀態下: 在深一層研究，引起產品不良或缺陷的原因其發生的根源，來自設計(Design)、製造(Process)及材料(Material), 改善重點: (1)設計(Design) 使用標準零件及材料設計(Design to Standard Parts/Materials) 依標準製程設計(Design to Standard Process) 依照已知的製程能力設計(Design to Known Capabilities) 考慮組立裝配(Design for Assecbly) 考慮簡單化(Design for Simplicity) (2)製程(Process) 短週程製程(Short-Cycle Manufacturing) 製程群組化(Process Characterization) 製程標準化(Process Standardization) 製程最適化(Process Optimization) 統計製程管制(SPC) (3)材料(Materials) 零件標準化(Part Standardization) 供應商SPC(Supplier SPC) 供應商驗證(Supplier Certification) 材料需求計畫(Material Requirements Planning) 　 管制常數表 超出管制界限的點 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 管制界限內之不良原因查詢 柏拉圖制作步驟 座標取法 橫軸：用以代表材料別、機器別、缺點種類或其它分析的原因。 縱軸：不良百分率、故障次數、損失金額或其它因分析原因所造成的結果。 蒐集資料 依據既定所要分析的原因種別，蒐集這些原因所造成的結果，通常是損失金額、損失時間等，這些資料有賴平常的紀錄語彙整，並需要得到經營管理階層與有關部門支持與提供情報，方能順利達成目標。 製作柏拉圖分析圖 按照橫軸各可能原因所造成之影響大小，繪成直方圖。 畫出累積百方率曲線。 將改善目標值，以虛線畫在圖上，作為改進之準則。 將上期造成之影響總量標於圖上，做為參考。 以一個月做為柏拉圖分析的期間。 縱軸最好以損失金額取代不良品個數或其它非金額的影響，目的是使所有人均能一目了然。 制程能力解析 何謂制程能力: 制程能力(capability of process)是指各種條件均標準化,制程在統計的管制狀態下所呈現之質與量的能力. 制程能力解析:制程能力解析又稱為制程能力研究,是利用管制圖 ,次數分配圖,直方圖及其他統計方法以決定制程能力的一種系統性工作. 制程能力解析的步驟 a.確定能代表制程的品質特性 b.由制程抽取樣本,測 定其特定性質. c.繪出 統計的形象,計算平均值與 標準差(利用次數分配圖) d.對羿常采取措施,直到滿意的制程 e.計算Cpk 如何計算出合理規格(1) 前提:設計合理品質 由Cpk公式中 ： Cpk = (規格上限 – Xbar ) / 3σa 或 ( Xbar - 規格下限 ) / 3σa 兩者取小值 我們得知，當我們的Cpk值訂為1.5時，其規格上限、規格下限如何計算出來？ 1.5 = (規格上限 – 304.562 ) / ( 3 × 0.058) 規格上限 = 304.562 + ( 1.5× ( 3 × 0.058 )) 規格上限 = 304.823 1.5 = (304.562 – 規格下限 ) / ( 3 × 0.058)