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ICT程式DEBUG 檢測工程部 余進旗 09.9.24 隔離點的测试原理及选择 电阻隔离点的测试原理及选择：电阻以電流源當信號源輸入時，則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能， 以防止電流流入與被測元件相接之旁路元件，確保量測的精準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件高電位能腳(高點)相接之旁路零件為參考範圍(見下圖一)。 电容隔离点的测试原理及选择：电容以電壓源當信號源輸入時，則在相接元件二之另一腳加上一等低電位能，以防止與被測元件相接之元件所產生的電流流入，而增加量測的電流，影響量測的精準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件低電位能腳(低點)相接之旁路元件為參考範圍(見下圖二) 。 　　圖一電流源測試圖 　　　　　圖二電壓源測試圖 电阻 電阻並聯電容：使用模式2–快速充電。因為電容之充放電效應，電阻之測量值較標準值為低，此時可加延遲時間或以重複測試加以解決。如果測量值依舊偏低，可以更改標準值與放寬上、下限之限制。在模式2，延遲時間不可超過999mSec，而其他模式下，延遲時間不可超500mSec。重覆測試設定不可超過5次。 電阻並聯二極體 ：選擇模式1 電阻並聯電阻 ：如待测电阻为RX，它与R1并联，则量测值＝RX*R1/RX+R1,標準值需改為量测值做為測量之基準。可查看電阻串、並聯的情況再修改 電阻並聯電感：電感在直流信號源下是近似於短路，所以電阻無法被準確測出。此時必須用交流電信號以相位分離法檢測，因此可以選用模式4：1K相位(R//L)、模式5：10K相位(R//L)、或模式6：100K相位(R//L)測量。 電阻並聯跳線：所有的電流皆流經跳線，所以R無法被準確測出。Rx≒0 偵錯要點： ?若測量值偏高很多（非小電阻），則需檢查待測零件之高點與低點之位置是否正確；或者零件之標準值是否有誤。 ?測試小電阻(小於10Ω)時，可能因交換電路板(Switching Board)或匯流排(Flat Cable)的內阻而影響量測偏移，可放寬上限與下限範圍或更換匯流排。 ?通常以選定和較少元件相接的腳為高點，以減少干擾程度。可以查看零件連接情形，再決定高點。 ?當測量值遠高於標準值，請檢查零件是否缺裝或零件值有誤或高點、低點有誤或是腳號錯誤。 ?若仍無法查出問題時，就直接用三用電表測量電路板以驗證量測結果。 如果單一步驟測試很穩定，整頁測試或全部測試會出現不良，可以將不穩定步驟搬移到前面再做測試，或在重測欄位鍵入“D”在測試前先放電。 電容 C1 C2 ：C1無法準確測量，必須刪略。 電容並聯電感 ：需用交流電信號以相位分離法檢測（模式5、模式6、模式7）。 電容並聯小電阻 ：需用交流電信號以相位分離法檢測。 偵錯要點： ?通常以選定和較少元件相接的腳為低點，以減少干擾程度。可以查看零件連接情形，再決定低點。 ?300pF以下之電容，一般使用較高頻的信號做量測。 ?當測量值遠低於標準值，可先用模式2測試，若無改善；再請檢查零件是否缺裝、損壞，零件值有誤，高點、低點有誤或是腳號錯誤。 ?小電容測試不穩定時，可以加延遲時間配合重測改善其穩定度。 ?大電容之延遲時間指的是充電時間。 ?如果測量值依舊偏高，可以檢查零件值和測試點，檢查是否有電容或小電阻並聯；若有並聯之零件，可更改標準值。 ?如果單一步驟測試很穩定，整頁測試或全部測試會出現不良，可以將不穩定步驟搬移到前面再做測試，或在重測欄位鍵入“D”在測試前先放電。 電感 偵錯要點： ?當測量值遠高於標準值，請檢查零件是否缺裝或者零件值有誤或者高點、低點有誤或是腳號錯誤。 ?使用電感之零件，例如變壓器，無法從線路圖或零件表(BOM)中查出其正確之電感值；通常先測量出穩定之量測值後，再將標準值和實際值修正和量測值一樣。若將標準值修正後，所得到的量測值卻不斷上升時，可能選點錯誤造成，請檢查線路圖及高點、低點是否正確。 ?一般電感以300uH以下居多，儘可能以高頻信號做量測，可得到較穩定之測量值。變壓器之量測必須參考線路圖以便得到正確之測試資料。 ?如果單一步驟測試很穩定，整頁測試或全部測試會出現不良，可以將不穩定步驟搬移到前面再做測試，或在重測欄位鍵入“D”在測試前先放電。 二極體 二極體與小電容並聯：可以利用增加延遲時間和重覆測試得到較佳之測量值電壓 二極體與小電感並聯：二極體無法準確測量。 二極體與跳線或保險絲並聯 ：二極體無法準確測量。 發光二極體 ：請將實際