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练 习 * 第九十二页，共一百三十二页。 * 第九十三页，共一百三十二页。 控制界限的更换篇 X –MR Chart X R Chart * 第九十四页，共一百三十二页。 控制界限建立以后并非一成不变，因为过程永远是处于波动的，因此控制界限需定期检讨，以判断是否需要更换控制界限，检讨控制界限的周期，应根据过程变化而定。 * 第九十五页，共一百三十二页。 过程流程发生变化时： 如增加或减少某个工序，改变了某个工序的作业方法或作业步骤，这可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使有控制规格不再适用。 * 第九十六页，共一百三十二页。 使用新的设备： 新设备的使用可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使原有控制规格不再适用。 * 第九十七页，共一百三十二页。 现有过程发生失控，经过改善过程重新受控后： 现有过程失控，再改善完成后过程均值及分布均与改善前出现差别，旧有规格已不再适用，需重新计算控制规格。 * 第九十八页，共一百三十二页。 对过程普通原因进行改善后： 过程能力的提高是与引起过程变异的普通原因的消除紧密相关，在对过程能力改善后，过程均值更接近目标值，过程变异变小，旧有控制规格已不再适用。 * 第九十九页，共一百三十二页。 当子组容量发生变化时： 抽样频率与过程特殊原因出现的频率有关，特殊原因出现的频率越高，抽样频率需相应增加，此时，应重新调整控制界限。 * 第一百页，共一百三十二页。 * 第六十页，共一百三十二页。 分析控制图 异常 原因 * 第六十一页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 X 图 * 第六十二页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 X 图 * 第六十三页，共一百三十二页。 X 图上的数据点超出上下控制界限的可能原因： 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 * 第六十四页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点上升 X 图 * 第六十五页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点下降 X 图 * 第六十六页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控制中限的下方 X 图 * 第六十七页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控制中限的上方 X 图 * 第六十八页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 过于规则的分布 连续 14 点交替上升和下降 X 图 * 第六十九页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 明显多于 80% 的点在 CL 的附近 X 图 * 第七十页，共一百三十二页。 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 明显少于 40% 的点在 CL 的附近 X 图 * 第七十一页，共一百三十二页。 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体 * 第七十二页，共一百三十二页。 R 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) 0 超出控制上限 * 第七十三页，共一百三十二页。 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 测量系统分辩率不够 过程发生变化 * 第七十四页，共一百三十二页。 R 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) 0 连续七点在控制中限的下方 * 第七十五页，共一百三十二页。 R 图 Upper Control Limit (