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四参数模型对被试作答异常现象拟合与纠正 　　摘 要 心理与教育测验中存在着被试作答异常现象(能力测验中的猜测现象和睡眠现象，人格测验中的非0下渐近线现象和非1上渐近线现象)，会导致被试能力或人格特征的测量偏差，在能力测验中，研究者已提出了多种方法来纠正猜测现象和睡眠现象，这些方法往往需要调整或删除被试作答信息，而四参数模型不需要改变被试作答信息而能有效纠正被试能力高估或低估现象，在人格测验中存在着非0下渐近线和非1上渐近线现象，四参数模型能增强测验项目拟合性能，提高人格测验的准确性。 　　关键词 IR7；猜测现象；睡眠现象；四参数Logistic模型 　　分类号 B841.7 　　 　　1　测验中的猜测现象和睡眠现象(非0下渐近线现象和非1上渐近线现象) 　　 　　按测验对象的内容来分，心理与教育测验可以分为智力测验、能力倾向测验、教育成就测验、人格测验等，而智力测验、能力倾向测验、教育成就测验都是最佳行为测验，可以统称为能力测验。在能力测验中，低能力被试靠猜测或者其他原因答对了高难度试题，这种现象叫做猜测现象(guesser，or guessing phenomenon)，猜测现象在能力测验中比较常见。在能力测验中还存在另一种现象，即高能力被试答错容易试题的现象，Wright(1977)将其称为“睡眠现象”(sleeper,orsleeping phenomenon)，比如一些学习成绩较好的学生都可能有过这样的体验：在测验时有些试题比较容易，但由于某些原因做错了。在计算机自适应测验(Computerized AdaptiveTest，CAT)测验中，高能力被试可能会由于一些原因而答错容易试题，Rulison和Loken(2009)概述了高能力被试答错容易试题的几种原因：焦虑、测试不良环境导致的被试分心、不熟悉计算机(在CA7时)、粗心、误解了题意等等，由于这些原因导致了被试答错相对容易的试题。此外测验动机过强、家长期望压力过大也往往会造成高能力被试没有考好，答错了对于他们来说较为容易的试题，对于猜测现象，在项目反应理论模型中用c参数(thelower asymptote)来反映，使用三参数Logistic模型来分析存在猜测现象的测验数据。对于睡眠现象，Barton和Lord(1981)提出用丫参数(thcupperasymptote)来反映，即在三参数Logistic模型的基??上增加r参数，使用四参数Logistic模型来分析同时存在猜测现象和睡眠现象的测验数据。 　　以上论述了在能力测验中的被试猜测现象和睡眠现象，相应的，在人格测验中存在被试作答的“作假”现象(Faking)。被试作假行为也有多种，包括被试期望反应行为、掩饰行为、趋中反应和随机化行为等等。随机化行为，往往是被试对人格测验不予以配合时发生的，这种情况可以通过指导语等方式取得被试的配合。对于趋中反应，可以通过营造一个良好的测验环境，使用指导语鼓励被试按实际情况作答来避免。在人格测验中，这里将主要论述对测验结果影响较大的被试期望反应行为和掩饰行为这两种主要的作假现象，在人格测验中，被试往往会受到社会期望压力、焦虑、掩饰等因素的影响，会产生两类作答反应倾向：一是由于社会期望压力、焦虑或其他因素，被试在试题上表现出入格特征维度高水平方向的倾向性作答(例如在社会期望反应方向为正向记分时)，使得被试在这一人格特征维度上的总分偏高，本文将这种现象称为非0下渐近线现象(non-zero lower asymeptote)，可以用c参数来反映(Rouse，Finger,Butcher,1 999；ReiseWaller,2003)；二是由于被试掩饰、说谎等原因，在试题上表现出入格特征维度低水平方向的倾向性作答(例如人格病理方向为正向记分方向)，使得被试在这一人格特征维度上的总分偏低，本文将这种现象称为非1上渐近线现象(non-one upoerasymeptote)，可以用r参数来反映(ReiseWaller,2003)。非0下渐近线现象和非1上渐近线现象是在人格测验中常见的两种作假现象。非0下渐近线现象和非1上渐近线现象，造成被试得分不准确，导致人格测量的偏差。相对于能力测验而言，在人格测验中被试很容易作假，这在职业选拔、人才测评的人格测验中尤为突出，Reise和Waller(2003)在分析人格测验MMPI-2时，发现了测验中的试题既存在着下渐近线，同时也发现一些试题存在着上渐进线，认为非1上渐近线现象也是试题的一个属性，这时可以用四参数Logistic模型来反映并拟合测验数据。 　　能力测验中的猜测现象和睡眠现象，人格测验中的非0下渐近线现象和非1上渐近线现象，本文统称为被试作答异常现象。这些被试作答异常现象会导致测验总分偏高或偏低，导致测量偏差。