第六章 宏观应力测定第七章 平均晶粒尺寸测定.pdfVIP

第六章 宏观应力测定 引言 单轴应力测定原理 平面应力测定原理 试验方法 试验精度的保证及测试原理 的适用条件 制作：艾云龙 2010-3-9 1.引言 内应力是指产生应力的各种外部因素撤除之后材料内部依然存在、 并自身保持平衡的应力。通常分为三类（如下表）： 第一类内应力又称宏观应力，在工程上常把宏观应力称为残余应 力。 类型 名称 平衡范围 衍射效应 产生原因 第一类 宏观内 在物体内部相当大 使谱线位移 热处理、表面处理、 内应力 应力 （众多晶粒）范围内 机加工等 第二类 微观内 晶粒、亚晶粒内部 晶格的弹性弯曲、扭 内应力 应力 转或均匀压缩、拉伸 使谱线宽化或 第三类 超微观 位错线附近、析出相 不同种类的原子移动、 衍射强度降低 内应力 内应力 周围、晶界附近、复 扩散和原子重新排列 合材料界面等若干个 使晶格产生畸变 原子尺度范围内 制作：艾云龙 2010-3-9 1.引言 X射线测定宏观应力的实验依据是物体中残余应力会使晶 面的衍射线产生位移。 宏观残余应力测定方法还有：电阻应变片法、机械引伸仪 法、超声波法等。 X射线法与这些方法相比，具有如下特点： 它是有效的无损检测方法； 它所测定的仅仅是弹性应变，而不含有范性应变（范 性变形不会引起衍射线位移）； X射线照射面积可以小到1～2mm直径，因此它可测定小 区域的局部应力； 只能得到表面应力，且精度受组织因素影响很大。 制作：艾云龙 2010-3-9 2.单轴应力测定原理 在拉应力σ 的作用下，正好与 y 拉伸方向垂直的试样中某晶粒的 （hkl）晶面，其晶面间距将由 Δdd d − n 0 ’ ε d 扩张为d ，则其应变为： y d d 0 n