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2017-08-12 发布于重庆
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第卷第期计算机技术与发展 . [DE-. 7D- 年月 !. G6X,A+OV+OG:76Y689/7ZZO[OY6,XO7+ @?-!. 软构件的可测试性研究白雪，宋雨，韩秀娟，剧树春（华北电力大学计算机科学与技术学院，河北保定） )* 摘要：构件的可测试性是决定构件质量的关键因素，若能在构件设计阶段就考虑构件的可测试性问题，改善和提高构件的可测试性，那么构件质量就能得到很好的保障，进而减少系统开发时的测试成本。文中针对这个问题，讨论了影响构件可测试性的几个因素，分析了构件测试中存在的问题和构件测试要达到的目标，提出一种构造可测试性构件的通用体系结构，即在原有构件的基础上增加测试工具，把可测试性构件当作对包含嵌入式测试和跟踪工具的扩展单元。关键词：构件测试；可测试性；基于构件的软件开发；构件质量中图分类号：文献标识码：文章编号：（） +,*-#. / #$*)#!.$.$! !#$%’()*()+,$%-(. (00+1#+$2343+ / 5 ，，， 0/1234567893:/7 2;33?@A 5B3CB3? = （，，，） 5CBDDEDFGDH 3J4K5C;4?C4L +4CB?DED 7DKJBGB;?OE4CJK;C,DP4KA?;Q4KR;J 0DS;? )*GB;? I MN N M ： 62#+%$++B4J4RJT;E;J DFRDFJPK4CDH D?4?JR;RD?4DFJB4;H DKJ?JFCJDKRS4J4KH;?;? JB4 3E;J DFCDH D?4?JR-1F 4DE4C?CD? N I I M U N I I I ， R;S4KJB4J4RJT;E;J DFJB4CDH D?4?JPB;E4S4R;?;J JB4 3E;J DFCDH D?4?JCD3EST44?R3K4S?SJB4CDRJ;?RDFJPK4J4RJCD3EST4K4 N I M U N I ， S3C4SJJB4RH4J;H4-53KQ4 RDH4FCJDKRS4J4KH;?;? JB4J4RJT;E;J DFCDH D?4?J KDDR4HDS4EJDT3;ESB;BEJ4RJTE4CDH D?4?J N M N I I I M N I T 4HT4SS;? J4RJ;? ?SHD?;JDK;? H4CB?;RHR- N M M M ：；