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技术资料 No. 用于元件测试的端接技术 一．引言 对交流元件测试仪器（低频 LCR 测试仪器，频率 F≤2MHz 时）来说，为了对被测元件（DUT） 进行准确的测量，需采用先进的测试原理，如 I-V 转换、检相、ADC 、先进的补偿技术和准确的计 算方法等。然而仅有这些是不够的，采用何种端接技术和正确使用这些技术是极为重要的，正确的 端接技术直接关系测量的准确性。本文试图通过对所涉及的端接技术的描述，指导用户正确地使用 这些端接方法来达到正确测试元件的目的。 由于LCR 测试仪的型号各不相同，可能采用的端接方法也会有所区别。本文由简到繁共归纳 了五种不同的端接技术，分别为二端（2T ）、三端（3T ）、四端（4T ）、五端（5T ）、四端对（4TP ）， 阐述了各自得特点、误差来源及阻抗适用范围。 二．2 端（2T ）配置 Hcur 如图 1 所示为典型的 2 端配置。 图中，OSC 为信号源，Rin 为信号源内阻， Rin Rs1 Ls1 V 为仪器内部高阻输入电压表，A 为低阻输入 Hpot 电流表。 OSC V C01 C02 C03 Zx Hcur，Hpot，Lpot，Lcur：仪器提供的四 Lpot 个测试端子 Rs2 Ls2 Hcur：信号源输出高端（电流输出高端） Lcur A Hpot：电压检测高端 Lpot：电压检测低端 图 1. 2 端端接配置示意图 Lcur：电流检测低端 C01，C01 为存在于两条测试线间的分布电容 C03 为存在于 DUT （Zx ）的分布电容 Rs1,Rs2 为测试引线与 DUT 间的接触电阻 Ls1,Ls2 为测试引线电感 2 端（2T ）的配置是一种最简单的端接方法，但这种方法存在着多种误差源。引线电感、引线 电阻以及两条引线间和端子间的分布电容都会叠加至测量结果上。C01，C01，C03，Rs1,Rs2， Ls1,Ls2 均会对测量结果产生误差。一般地，除个别情况（如精度很低的手持的LCR 表，同惠TH2821 系列手持 LCR 表采用五端配置），在 LCR 测试仪上基本未采用此类端接方法。 其典型的阻抗量测范围（没有进行补偿）限制在 100Ω到 10kΩ之间。 1 用于元件测试的端接技术 技术资料 No. 三．3 端（3T ）配置 3 端配置与 2 端配置的唯一区别是将测试线 换成外层带屏蔽的同轴电缆，将屏蔽部分连接至 Hcur Rs1 Ls1 仪器接地部分，如 BNC 接头的外层，我们将该屏 Rin 蔽层也称一端。 Hpot 由图2 可以看出，分布电容 C01，C02 连接 OSC V C01 C02 C03 Zx