SJ_T 11011-2015电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法.pdf

ICS 31.030L 90SJ备案号：52012-2015中华人民共和国电子行业标准SJ/T11011—2015代替SJ/T11011~11017—1996、SJ/T11019—1996铅、铋、电子器件用纯银钎料中杂质含量锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法Test method for lead, bismuth, zinc, cadmium, iron, magnesium, aluminium, tin.antimony and phosphorus in pure silver brazing for electron device by ICP-AES2016-04-01实施2015-10-10发布发布中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T11011—2015前言本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则编写。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准是对SJ/T11011一1996《电子器件用纯银钎焊料的分析方法双硫腺分光光度法测定铅》、SJ/T11012一1996《电子器件用纯银钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定镁和锌》、SJ/T11013-1996《电子器件用纯银钎焊料的分析方法分光光度法测定镉》、SJ/T11014一1996《电子器件用纯银钎焊料的分析方法孔雀绿分光光度法测定11015—1996《电子器件用纯银钎焊台料的分析方法邻菲罗啉分光光度法测定铁》、SJ/T11016-1996《电气器件用纯银钎焊料的分析方法马钱子碱一碘化钾分光光度法测定铋》、SJ/T11017一1996《电子器件用纯银针焊料的分析方法磷钼蓝S019—1996《电子器件用纯银钎焊料的分析送分光光度法测定磷》铋、锌、镉、铁、铝、W镁、铝、锡及锑的化学光谱测定核准的合并修订。本标准与原有下列变化维相比将 SJ/111011SJ/T11019—1996八个标准合并为一个标准1采用PAES仪器分代替化学分析法，测量精度和测量速度得到大幅提升；PHN“允许差”章节，增加了精密度删除本标准由全国印制电路标准化技术委ACC47)归本标准起草单位：信息产业专用材料质量督检验心、中国国电科第四十六研究所工业和信息化A化研究院。部电子工业标准LO本标准主要每起草人王奕褚连青秀本标准所代替历次版本发布情况为：SJ/1996SJ/T11019本次修订为第次修订。ARDSNI SJ/T11011—2015电子器件用纯银钎料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法1范围本标准规定了采用ICP-AES测定电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测试方法。本标准适用于电子器件用纯银钎料ID、INORY锡、锑和磷的测定。测试范围ANDIATORNUINDUSTRYA（质量分数）铅、铋、锌磷为0.0005%0.003%。1%2规范性引用文件下列文件对本文件的应用是必不可少的。见是注日期的引用件，仅注日期的版本适用于本文件。Y引用支凡是不注日期的版本（包括所有的修改单）适用本文件TECHNOLOG-学试剂标准璃GB/T 602溶液的制备冶产品化GB/T 146分析小法标准的总则及一般规定GB/T 23942学试剂电感耦合等离子体子发射光谱法通E术语和定义3SGB/T 23942界定的为木语和定义适用于本文件。7N4方法原理C性生容液中，以氢氧化富集铅、铁与在硝酸介质中，使用试样用硝酸分解，在氨秘离。ICP-AES，同时测定铅、铋和铁的质量浓度A在硝酸试样用硫酸分解，用盐酸沉淀分离基体银。更用ICP-AES，同时测定锌、镉、镁、铝、锡、锑和磷质量浓度。5试剂及材料5.1水（电阻率≥18MQcm）；5.2氨水(p0.91g/cm²，优级纯);5.3氨水(2+98);5.4硝酸(p1.42g/cm²，优级纯);5.5盐酸(p1.19g/cm²，优级纯);5.6硝酸(1+1);5. 7硝酸(1+4);5. 8硝酸溶液(25.0 g/L);1 SJ/T11011—20155.9盐酸(1+1);5.10盐酸(2+98);5.11硝酸铅(基准试剂);5.12硝酸铋[Bi(NO3)3·5H2O] (基准试剂);5.13硫酸铁铵[NH4Fe(SO4)2·12H2O)(基准试剂);5.14氧化锌(基准试剂，于800℃土50℃灼烧至恒重);5.15氯化镉[CdCl2·5/2HO](基准试剂);5.16氧化镁(基准试剂，于800℃土50℃灼烧至恒重);5.17硫酸铝钾[KAl(SO4)2·12H2O] (基准试剂);5. 18纯锡(≥99.95%);5.19酒石酸锑钾[C4H4KOSb·1/2H2O](基准试剂);磷酸二氢钾(基准试剂);5