退火温度对基于Bi1.5Zn1.05Nb1.5O7栅绝缘层的ZnO-TFTs性能的影响.docx

退火温度对基于Bi1.5Zn1.05Nb1.5O7栅绝缘层的ZnO-TFTs性能的影响.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
1 引言 二十一世纪是信息化时代,社会的信息化推动了平板显示器和传感器向大面积、高清晰度、高分辨率、低价化和人性化的方向发展,薄膜晶体管作为平板显示器和传感器的核心元件已经被广泛研究与应用[1,2],在各种薄膜晶体管中,氧化锌薄膜晶体管(ZnO-TFTs)具有良好的电学和光学性能,光敏感性低、较高的电子迁移率、可见光透明及可以低温制备等优点使得它们将在下一代TFT得到广泛应用[3,4],随着芯片集成度的不断增加,功耗将成为影响超大规模集成电路及器件一个主要因素,随着器件特征尺寸的不断减小,栅氧化层的厚度将不断减小,最后厚度逐渐接近原子距离,导致隧道效应作用明显,使得栅极漏电流成为必须考虑的问题

文档评论(0)

罗伯特之技术屋 + 关注
实名认证
内容提供者

畅游技术蓝海,八大领域技术领先解读!

1亿VIP精品文档

相关文档