颗粒统计分析测量系统-飞纳电镜.PDFVIP

规格表 | 飞纳电镜软件 颗粒统计分析测量系统 研究颗粒和粉末的强大工具 直观、自动的用户操作界面 以 ProSuit 为运行平台 便捷生成数据报告 Nebula 干粉分散器 操作界面 柱状图筛选 结合飞纳台式扫描电镜（SEM）和颗粒统计分析测量系统，以最快、最简便的方式实现颗粒的可视化分析，代表着微观颗粒分析技术 的一大进步。快速、易用和超清晰成像质量的飞纳台式扫描电镜的结合，加上颗粒统计分析测量系统的颗粒图像分析功能，为用户检 验、分析各种各样的颗粒、粉末样品创造了一个强大工具。 颗粒统计分析测量系统 使用飞纳台式扫描电镜的颗粒统计分析测量系统，以最快速、 柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出，并生成报告。 最简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统 所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。 支持用户收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。 散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来，以揭示相关性和 超越光学显微镜分析，完全自动化的颗粒统计分析测量系统把 趋势。飞纳电镜的颗粒系统支持用户获得他们需要的数据。因 可视化分析提高到了一个新台阶，这将在粉末设计、开发和质 此，颗粒系统加快了颗粒分析速度，提高了产品质量。 量控制中产生进一步的探索和创新。 颗粒系统规格参数 颗粒分析 图像显示 • 可给出线性、对数或双对数坐标的 • 颗粒尺寸范围 100 nm – 0.1 mm 数量、体积分布图 • 颗粒探测速度 高达 1000 个/分钟 • 任意指定参数的散点图 • 测量属性 大小、形状、数量 • 单个颗粒的扫描电镜（SEM）图像 颗粒参数 面积、圆当量直径、表面积、外切圆 输出 • docx 格式的报告 直径、比表面积、周长、纵横比、圆 • TIFF 格式的图像 度、伸长率、灰度等级、长轴、短 轴、凸壳体、重心 (x、y)、像素点 • CSV 文件 数、凹凸度。 ProSuite子模块 • 用以离线分析的项目文件 （.PAME） • 可以网络存储 • 集成于飞纳电镜 散点 图显示界面 把粉末导入 Nebula进行干法分散 颗粒统计分析测量系统的主要优点： Nebula • 以 ProSuit 为运行平台 用 Nebula 可以在扫描电镜（SEM）样品台上实现干粉均匀分 • 直接从飞纳台式扫描电镜中获取图像 散。 Nebula 可以获取单层颗粒，同时避免颗粒的团聚 ，保持 脆性颗粒的结构完整，为用户提供最佳制样方法。 • 识别并确认例如破损颗粒、附着物和外来颗粒 配合颗粒统计分析测量系统 ，使用干粉分散器可以为用户 • 相关颗粒的特征，如直径