红外光谱法测定石英砂中游离二氧化硅含量的影响因素分析.pdfVIP

·监测与检验技术· 红外光谱法测定石英砂中游离二氧化硅含量的 影响因素分析 王雪涛刘君刘丽华赵健宇 【摘要】 目的通过用红外光谱法测定石英砂游离二氧化硅含量过程中影响因素的分析，提出适 宜石英砂的二氧化硅检测方法。方法运用红外光谱法测定石英砂中游离二氧化硅含量，并对研磨时 间、灰化温度、灰化时间等影响因素进行分析研究，并与焦磷酸法进行比较。结果随着研磨时间的延 长，小于5斗m的微粒增多。游离二氧化硅含苣也相应增高，研磨到15～20min时，游离二氧化硅含量的测 定结果趋于稳定。灰化温度在550℃以下对游离二氧化硅含量无影响；与灰化温度550℃时比较，灰化 温度600。c时的二氧化硅含量降低，但差异无统计学意义(尸0．05)。当灰化温度在600‘C时，灰化时间在 lh内石英砂样品中的游离二氧化硅含鼍无明显变化，差异无统计学意义(，值：4．23l，P值0．05)。与灰 化lh的样品比较，灰化2h时石英砂样品中的游离二氧化硅含茸明显降低，差异有统计学意义(F值= 10．23l，P(0．05)。焦磷酸法测定游离二氧化硅含量平均为88．56％±5．75％，红外法测定游离二氧化硅含量 平均为21．23％±11．25％，两者的差值为51．42％一86．52％。差异有统计学意义。(拉29．177，PO．05)。红外法 与焦磷酸法测定游离二氧化硅含量无相关性(r=0．4ll，尸如．072)。结论焦磷酸法测定石英砂游离二 氧化硅含量结果明显高于红外法。建议石英砂中游离二氧化硅测定方法首选焦磷酸法。 【关键词】红外光谱法；焦磷酸法；游离二氧化硅；影响因素；石英砂 facto瞄oninfhnd contentoff}ee in of detenllinationofme silica Analysisinnuendng sp∞troscopic 肼ⅣG q岫nz鼢nd xw-f∞，L彬血m￡彤从^峨幼AD胁l—m‰f如船．加Dcc印m幻删S咖砂蒯 dm讥诂f删幻n 日e以^．＆舭A o厂形D以S船帆＆i托粥，02308肌i舳 Tbfindasuitablemethodf_or in sandandto thPin· 【Abstract】 si02 objective detec“ng quaItz analyze oninfhred ofthecontentfjee in sand．1Ⅵetho‘Is nuencingfactors 8pectmscopicdetemination of silicaquartz wa8usedtodetectthef÷ee of Theinfhredspectroscopv silicacontentquanzsand，thevariousfhctorsofinflu． encingtheresulbwereanalyzedandthecontrolschemewaspmposed．R鹤llItsThenumberofpaniclesless than5umandthe offieesilicacontentincreasedwiththe lime．Whenthe timewas proportion grinding grinding 10—20 resultsof thefbesilicacontenttendedtobestable．Whenthe was min，t}Ie detecting ashingtemperature wasnoefrectonthef论esilica the content below550℃，there