4第四章锥偏光镜下透明矿物的晶体光学特征.pptVIP

偏光显微镜技术 ● 二轴晶光率体的切面类型 垂直OA的切面 平行OAP的切面 垂直Bxa的切面（＋） 垂直Bxa的切面（－） 垂直Bxo的切面（＋） 垂直Bxo的切面（－） 任意斜交切面 垂直OAP的斜交切面 ●二轴晶垂直Bxa切面的干涉图 ■干涉图的图象特征 ■干涉图的成因 ■干涉图的应用 ■干涉图的图象特征 ■干涉图的图象特征 ■干涉图的图象特征 旋转45° ●⊥Bxa干涉图 0°位置 45°位置 90°位置 135°位置 0°位置 OAP迹线 OA露点 OA露点 2V Bxa露点 Nm方向 Bxa露点 OA露点 OA露点 Nm方向 2V 45°位置 OAP迹线 ●当2V角较大时，在45位置将看不到双曲 线消光影 ●双折率很小时干涉图中将无干涉色色圈 ■干涉图的成因 干涉色圈的成因 ■垂直Bxa切面干涉图的应用 ●确定切面方位 ●确定轴性 ●确定矿物光性符号 ●测定光轴角大小 1、可确定观察矿物为二轴晶，切面方向 ⊥Bxa 2、可测 2V 角大小 3、可测光性正负 正光性时切面含Nm、Np轴；负光性时切面含Nm、Ng轴 Sin V = D· N.A. ／R ·Nm V— 半光轴角 D— 双曲线消光影两顶点间距离 R— 视域直径 Nm— 由单偏光镜下的突起估计 用⊥Bxa 干涉图测 2V 角 ●若2V角较大，可用逸出角法测2V OA露点 OA露点 D R ●⊥Bxa干涉图的意义 ●用⊥Bxa 干涉图确定光性正负 — 45°位插入试板 1λ 1λ 降低为Ⅰ级黄 降低为Ⅰ级黄 升高为Ⅱ级蓝 降低为Ⅰ级黄 升高为Ⅱ级蓝 升高为Ⅱ级蓝 45°位 正光性 负光性 ●也可插入云母试板，出现消色斑的象限干涉色降低！ 一三象限干涉色升高 二四象限干涉色降低 一三象限干涉色降低 二四象限干涉色升高 正光性 负光性 确定光性符号 ●⊥ Bxa 干涉图 0°位置 45°位置 ●本干涉图可用来测光性正负，但不能测2V角大小 ●二轴晶垂直OA切面的干涉图 ■干涉图的图象特征 ■干涉图的成因 ■干涉图的应用 ■干涉图的图象特征 2V 30° 旋转45° 2V 50° 干涉图 ■垂直OA切面干涉图的应用 ●确定切面方位 ●确定轴性 ●确定矿物光性符号 ●测定光轴角大小 ●测定光轴角大小 * 第四章：锥偏光镜下透明矿物的 晶体光学特征 ●锥偏光镜的装置特点 ●一轴晶干涉图的特征、成因及应用 ●二轴晶干涉图的特征、成因及应用 ●干涉图色散观察 ●锥偏光镜的装置特点 平行光 锥形光 加入上偏光 加入勃氏镜（可不加勃氏镜，但须同时拔去目镜） 换用高倍物镜 加入聚光镜 ●聚光镜、物台、物镜、勃氏镜 和目镜的中心要位于一条直线上 下偏光镜 物镜数值孔径 观察薄片 θ 高倍物镜 物镜数值孔径 N.A. = n sinθ θ为物镜光孔角 n 为物镜与薄片间介质的折射率 当介质为空气时,n ≈ 1，此时 高倍物镜 N.A. = 0.65—0.85 中低倍物镜 N.A. 0.4 ●物镜接纳光线的多少与其数值孔径有关 ●锥光观察时均用高倍物镜 中低倍物镜 工作距离 ●高倍镜时工作距离很短，一定要小心操作！ ●干涉图 偏光显微镜下观察到的矿物光学性质，是垂直光波传播方向的切面所显示的光学性质 由于锥形偏光从不同的方向入射矿片，会在同一矿片中观察到不同方向切面的光学性质 在锥偏光镜下能同时观察到不同方向切面的消光和干涉现象，这些方向不同，且方向连续过渡变化的所有切面的消光和干涉现象称为干涉图 干涉图 锥光镜研究内容 — 轴性、光性、2V、切面方向 ● 锥光镜下的观察对象 — 干涉图 由锥形入射光的干涉和消光现象形成的综合图形称干涉图 ● 区分均质体和非均质体 ● 均质体无干涉图，旋转物台，视域始终黑暗 ● 非均质体任何切面都会产生干涉图。干涉图的图形特征主要与轴性和切面方向 有关，其次与2V角、折射率等有关，而与光性正负无关 ● 一轴晶干涉图 特征 成因 应用 ●一轴晶干涉图的特征、成因及其应用 ■干涉图的图象特征 ■干涉图的成因 ■ 干涉图的应用 ■一轴晶正光性光率体三种主要的切面类型 Ne ●垂直OA ●平行OA ●斜交OA No No No No Ne’ ■一轴晶负光性光率体三种主要的切面类型 ●垂直OA ●平行OA ●斜交OA No No No Ne’ Ne No ●一轴晶垂直光轴OA切面的干涉图 干涉图特点：黑十字和同心环状干涉色圈 旋转物台360°，干涉图像不发生变化 OA出露点，OA与切面的交点 同心环状干涉色圈