自动检测技术实用教程 教学配套课件 周征 第10章 检测系统的抗干扰技术.pdfVIP

第10章 检测系统的抗干扰技术 10.1 干扰的来源及传播途径 10.2 常用的抗干扰技术 本章提要  检测系统的工作环境往往比较复杂和恶 本章通过对干扰的来源及传播途径的分 析，重点阐述了检测系统中，常用的接 地技术、屏蔽技术、长线干扰的抑制技 术、共模和差模干扰的抑制技术、电源 系统的抗干扰技术和印刷电路板抗干扰 技术等硬件抗干扰技术。 10.1 干扰的来源及传播途径  干扰:就是内部或外部噪声对有用信号的 不良作用。  噪声:是指电路或系统中出现的非期望的 电信号。 10.1.1 噪声源  1. 放电噪声  ①电晕放电噪声  ②放电管（如日光灯、霓虹灯）放电噪 声  ③火花放电噪声 2. 电气干扰源  ①工频干扰  ②射频干扰  ③ 电子开关 3. 固有噪声源  ①热噪声  ②散粒噪声  ③接触噪声 10.1.2 噪声干扰的传播途径  1．静电耦合（电容性耦合）  静电耦合是由于两个电路之间存在寄生电容， 产生静电效应而引起的干扰 导线1 导线2 C12 U i C1 C2 R U1 图10-1 静电耦合示意图 2．电磁耦合（电感性耦合）  电磁耦合是由于两个电路间存在互感而产生的 导线1 R 1 导线2 I 1 M R2 U i U1 R 图10-2 电磁耦合示意图 3．漏电流耦合（电阻性耦合）  漏电流耦合是由于检测系统内部的电路绝缘不 良，而出现的漏电流引起的电阻耦合产生的干 扰 A B A 、B为检测系统中的两 Rm 段电路，Rm为两段电 路之间的漏电阻，R0为 U Ro i 电路B的等效阻抗，Ui 为干扰电压。 U1 图10-3 漏电流耦合示意图 4 ．共阻抗耦合  共阻抗耦合是指两个或两个以上电路有公共阻抗时， 一个电路中的电流变化在公共阻抗上产生的电压。  （1）电源内阻抗的耦合干扰