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靜電氣泡袋

* * * * * * * * * * * * * * * * * Corporate Quality Weekly Report PCA-6781 clear CMOS原因 問題描述: 客戶:穗彩 產品:POD-6552L-GNELA1E 數量:500*PCS,目前抽測了50*PCS,43*PCS出现不良(clear CMOS)不良率43/50=86% 問題描述: 客戶:共濟 產品:PCA-6781VE-M0A1E 數量:新品--176*PCS,不良品—33*PCS,第一批新品 5/35 = 13%不良 , 第二批新品於2/12 141片中,抽樣56片 有28片不良...50% 問題真因: 客戶將我司產品置放於靜電汽泡袋上,此為不正確的操作方式。 由於靜電氣泡袋本來就不是絕緣物體(導體,只是阻抗較高,請參見附件),若是板卡產品(產品有類似BIOS鋰電池)直接放在上面都會有以下的風險: 直接接觸電池pin腳造成漏電,更甚者電池漏液(過放電) 直接接觸Clear BIOS的reset pin造成出廠裝置設定移失或時間歸零 以為靜電袋為絕緣體,將產品與外部電源間以氣泡袋隔離,造成不可預期的EOS把電子元件燒毀 PCA-6781 clear CMOS原因 查IPC-A-610D 3.1.4 三種靜電防護包裝 靜電屏蔽(或阻擋層包裝)材料?防止靜電釋放時穿透包裝進入組件 抗靜電材料?磨擦不易產生靜電(Low charging),但是遇到靜電時會被穿透 靜電消散材料?具有足夠的傳導性,使電荷通過其表面消散 絕緣體(Insulator)易產生靜電,因此靜電袋均以消散材(Dissipative)與導電材(Conductive)兩類為主 查MIL-B-81705,ANSI/ESD S541,ANSI/ESD S20.20,IEC 61340-5-1雖數值有所差異,且有的使用表面阻抗,有的用體積阻抗,但均依其阻抗將材料分為三類 絕緣材??? ( 阻抗 1011 Ω/sq;ANSI/ESD S541,ANSI/ESD S20.20) 消散材??? (104 Ω/sq ≦ 阻抗<1011 Ω/sq ;ANSI/ESD S541,ANSI/ESD S20.20) 導電材??? (阻抗 104 Ω/sq;ANSI/ESD S541,ANSI/ESD S20.20) 屏蔽材??? (阻抗 103 Ω/sq;ANSI/ESD S541,ANSI/ESD S20.20) 查IPC-A-610D中提及IPC-J-STD-033 (濕度敏感表面貼裝器件的操作與包裝運輸使用標準),在查IPC-J-STD-033中page 8提及MBB(濕敏元件真空袋)ESD須符合MIL-B-81705 type I以上的規格,再查MIL-B-81705 page 8 test part 4.8.8 說明內層表面須阻抗須大於或等於105 Ω/sq 並小於1012 Ω/sq,外層表面阻抗需滿足小於1012 Ω/sq 問題說明靜電袋測試數據 針對靜電袋做量測 以下兩家(廣昂、鳳吉)為有提供進貨至EPC廠的靜電袋廠商 抽取各家廠商3個靜電袋料號,再由三個靜電袋中隨機抽取各三個機種料號 實驗目的 量測靜電袋的實際阻抗值 測試環境 濕度 35% ~ 65%, 23°C±5°C 測試手法 利用表面阻抗計量測靜電袋表面阻抗值 PCA-6781時間歸零測試 實驗主因 PCBA放置於靜電袋上會出現Clear CMOS現象,故測量板子於多少電阻值會造成Clear CMOS 實驗條件 使用客戶的PCA-6781的版子、底板、電源供應器 實驗手法 於PCA-678 Clear CMOS的J4 Pin1、Pin2外接可調式電阻 外接106Ω的可調式電阻,以每5x104Ω遞減、接觸時間以5/sec為基準,測出時間歸零電阻值的區間範圍 實驗數據 實驗結果 針對量測第1點及第2點連接使用106Ω的電阻長時間接觸下(19 hours),實驗結果也會發生clear CMOS的現象 依據實驗數據,0Ω~7.5x105Ω 只要接觸5 sec就會發生clear 由於8x105Ω與9.5x105Ω並未發生clear但是8.5x105Ω與9x105Ω反而有發生clear因此安排進一步試驗 PCA-6781時間歸零測試 實驗主因 確認大於7.5x105Ω以及106Ω是否可以保證不會發生clear 實驗條件 使用客戶的PCA-6781的版子、底板、電源供應器 實驗手法 於PCA-678 Clear CMOS的J4 Pin1、Pin2外接試驗電阻 試驗電阻阻抗如下 8x

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