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统计过程控制（SPC）之不良率控制图的使用及建立 定义/说明/要求/目的： 不良率（p）控制图是计数控制图，p控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格，通过产品不合格率的变化来控制质量。 p控制图在使用之前应消除不必要的外部变差的原因，在不使用p图之前就能消除明显的问题。 控制限是基于近似的正态分布，故使用的样本容量应该使。 检查表： 编号 检查内容 1 不良率控制图的使用场合 p控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格，通过产品不合格率的变化来控制质量的 2 p控制控制的对象可以是不良品率、良品率、废品率、缺勤率和差错率 3 样本数可以相同也可以不相同 4 p控制图出现异常时，比较难以找出异常的原因 5 p控制图必须选择重要的检查项目，作为判断不良品的依据 6 第一次使用p图时，没有上下限的控制线，只可作为初始研究；第二次使用时可以从第一次中获得上下限的控制线 7 p图为计数值，分布为二项分布 8 不良率控制图建立步骤 步骤一：选择子组容量 子组容量可以相同也可以不相同 9 为确保能检验出产品性能的变化，一般要求子组容量在50～200或更多 10 对于可分析的p控制图，一般要求子组容量能够包含3以或更多的不合格 11 每个子组代表一段时间的过程操作，大的子组容量可能会有不利之处 12 不相同子组容量的变化最好±25%之内 13 如果子组容量足够大，就能够获得下控制限，可以发现由于改进造成的可查明原因 14 步骤二：确定分组频率 分组频率应根据产品的周期确定，以便帮助分析和纠正发现的问题 15 时间间隔短则反馈快，但或许与大的子组容量的要求相矛盾 16 步骤三：确定子组的数量 收集数据的时间应足够长，以便能找到所有可能过程的变差源 一般情况下，应包括25个或更多的子组，以便很好地检验过程的稳定性 17 步骤四：选择p控制图的坐标刻度 一般不合格率作为纵坐标，子组（小时、天等）作为横坐标。 纵坐标的刻度从0到初步研究数据读数中最大的不合格率的1.5～2倍的值，便于落点 18 步骤五：合格率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点连成线有助于发现异常图形和趋势 19 当点描完后，先确认一下是否合理。如发现任意一点比别的点高出或低出许多，需要检查是否正确 20 记录过程的变化或可能影响过程的异常情况。当发现这些情况时，必须在控制图上记录 21 步骤六：计算单值及单值的均值 单值：；=被检查零件的数量， 22 单值的均值：；k=子组的数量； ；如果所有的相等 23 步骤七：计算控制界限 控制中线： 24 控制上限： 25 控制下限： 26 样本n恒定时 控制上限： 27 控制下限： 28 样本容量发生变化时 如果：，则控制限不变 控制上限： ；=样本容量的均值 控制下限： 29 不良率控制图的使用例子 首次合格(FTQ)结果 30 不合格品率 31 合格品率 32 在临界值以上（或以下）产品的比率 33 不良率控制图的一般判定结果 在特定分类中的产品比率 34 在临界值以上（或以下）产品的比率 35 正常运行时间的比率（设备） 36 不良率控制图界限的更新 进行初始过程研究时 37 对过程能力进行重新评价时，现有过程出现失误 38 样本容量改变时 39 工艺流程发生变化时 40 对过程的普通原因进行改善后