统计制程管制之概念与手法.pdfVIP

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2017-10-26 发布于河北
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统计制程管制之概念与手法

主講人：陳乃源 1 N.Y CHEN 內容（一）製程變異和ERROR來源 1 （二）製程變異測量與管制 2 （三）製程能力解剖所需資料和 CHECK頻率 5 （四）6 σ策略 14 - SPEC CONTROL LIMITS IN 6 σ - σ值計算計數值( ) - YRT VS YFT - 6 σMETHOD - 6 σTOOLS - Cpk VS 6 σ -選擇 6 σ或Cpk - 持續改善VS矯正措施（五）SPC 流程改善10個步驟 15 （六）SPC訓練需求 16 （七）SPC製程評估應用 - 製程特性測量 - 製程績效評估 - YRT VS 6 σBENCHMARKING 2 N.Y CHEN 產品總變異零件變異(40%) 製程變異(30%) 量測系統變異 10% OTHERS (20%) ZST ZLT DUE TO DUE TO Cpk OTHERS SHORT-TERM LONG-TERM GAGE OPERATOR ACCURACY PRECISION RESOIUTION (BIAS) (ERROR) (DISCRIMINATION) 3 N.Y CHEN VARIABLE 計量值變異 ATTRIBUTES 計數值原理 HIGH DEFECT DEFECT DEFECTIVE VOLUME DEFECTIVE LOW HI LO Y BAR MOVING CONSTANT CONSTANT R CHART RANGE Y SAMPLE NO SAMPLE Y NO C U NP P 4 N.Y CHEN 不適當製程