自动控制原理现象分析.doc

第一章 线性系统的时域分析 1.1典型环节的时域响应 比例R0=100K,R1=200K 积分R0=200K,C=1uf 比例积分（R0=100K,R1=100K,C1=1uf） 一阶惯性R0=R1=200K,C=1uf 比例微分R0=R1=R2=100K,R3=10K,C=1uf 比例积分微分R0=R1=100K,R2=R3=10K,C1=C2=1uf 典型系统的时域响应和稳定性分析 阻尼比小于1的二阶系统（R=10K） 阻尼比小于1的二阶系统（R=50K） 阻尼比等于1的二阶系统（R=160K） 阻尼比大于1的二阶系统（R=200K） 趋于稳定的三阶系统（R=100K） 临界稳定的三阶系统（R=40.8K） 发散不稳定的三阶系统（R=30K） 线性系统的校正 系统校正前的时域响应 系统校正后的时域响应 第二章 线性系统的根轨迹分析 线性系统的根轨迹分析 根轨迹进入S左半平面，系统趋于稳定，此时R=218K 根轨迹位于虚轴上，系统处于临界稳定，此时R=164K 根轨迹进入S右半平面，系统发散不稳定，此时R=100K 第三章 线性系统的频率响应分析 线性系统的频率响应分析 采用直接测量法测得二阶闭环系统的波特图 采用间接测量法测得二阶开环系统的波特图 采用直接测量法测得二阶闭环系统的极坐标图 采用间接测量法测得二阶开环系统的极坐标图 第四章 非线性系统的相平面分析 典型非线性环节 继电特性 饱和特性 死区特性 间隙特性 二阶非线性系统 继电型二阶非线性系统 加速度继电型二阶非线性系统 饱和型二阶非线性系统 注：以上3个图为了清晰的观测到系统暂态过程，X_Y置于2V档，要想观察整个全过程，请置于5V档 4.3 三阶非线性系统 继电型三阶非线性系统 饱和型三阶非线性系统 第五章 采样系统的稳定性分析与校正 采样系统的稳定性分析 采样周期20ms时信号未失真 采样周期200ms时信号失真 采样周期20ms时，二阶系统处于稳定状态，超调53％ 采样周期60ms时，二阶系统处于稳定状态，超调67％ 采样周期120ms时，二阶系统处于临界稳定状态 采样控制系统的校正 系统校正前处于等幅振荡状态 校正后系统稳定 第六章 线性系统的状态空间分析 系统在极点配置前的响应曲线 系统在极点配置后的响应曲线 第七章 模拟PID闭环温度控制的设计与实现 温度单元的控制效果 自控实验效果图 西安唐都科教仪器公司 西安唐都科教仪器公司 自动控制原理 20 21