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ETORF：外部触发溢出标志。置位条件：处于边沿触发模式时，如果第一个边沿触发的队列转换正在进行，而这时却检测到了第二个有效的边沿。清零条件：对此位写一；写控制寄存器2、3或4，终止当前队列；写控制寄存器5，开始一个新队列。 FIFOR：FIFO 溢出标志。如果转换完成标志（CCF）在没有被清零时结果寄存器被写入新值（覆盖），则置位。清零条件：对此位写一；写控制寄存器5，开始一个新队列。1=有FIFO溢出，0=无FIFO溢出。 CC2、CC1、CC0：转换计数器。代表了哪个结果寄存器将要接收当前转换的结果。非FIFO 模式（FIFO=0），这3 位的初始值为0，计数完成后又会回到初始值。FIFO 模式（FIFO=1），转换计数器处于循环计数状态。 ATD模块 ATDDR0—ATDDR7：0—7通道的结果寄存器。A/D转换的结果需要从这几个寄存器中读取。每个16位寄存器可以分成2个8位的寄存器来读取，分别为ATDDRxH和ATDDRxL。 注意转换结果在这8个16位寄存器中的存储格式。以10位左、右对齐为例： 另外还要注意有符号数据和无符号数据的区别。 CCF7~CCF0的清零条件： 当写控制寄存器5-ATDCTL5 ，表开始一个新队列； 当ATDCTL2. AFFC=1时，只有读取完结果寄存器； 当ATDCTL2. AFFC=0时，首先读状态寄存器1-ATDSTAT1，然后读取结果寄存器。 ATD模块 IENx：通道x 数字输入数字缓冲使能标志位。这8个控制位控制了从模拟量输入引脚ANx到数据寄存器PTADx是否需要数字输入缓冲区。1=缓冲区有效；0=禁止。 注：打开数字缓冲区，但是会增加功耗。 实验4：ATD转换查询方式 使用教学板上电位器调试并观察A/D转换结果。 实验方法：导线一头接S12实验板的A/D口的ATD1.ANI4,另外一头接S12实验板中下部分10K电位器旁边的0-5V接口;调变阻器,导致PORTB口对应的流水灯变化。 TM Freescale Semiconductor Confidential and Proprietary Information. Freescale? and the Freescale logo are?trademarks?of Freescale Semiconductor, Inc. All other product or service names are the property of their respective owners. ? Freescale Semiconductor, Inc. 2005. Freescale Semiconductor Confidential and Proprietary Information. Freescale? and the Freescale logo are?trademarks?of Freescale Semiconductor, Inc. All other product or service names are the property of their respective owners. ? Freescale Semiconductor, Inc. 2005. TM ATD模块 Slide * ADPU AFFC AWAI ETRIGLE ETRIGP ETRIGE ASCIE ASCIF ADPU: A/D 电源使能/禁止 1=A/D模块上电,转换正常工作; 0 =关闭模块电源,减少功耗 AFFC: A/D 快速转换完成标志位清零 1 = 快速标志位清零顺序, 每次读取结果寄存器自动清零 0 = 正常标志位清零顺序, 需要手动对状态标志位清零 A/D 控制寄存器2：ATD0CTL2 ASCIE:转换完成允许中断。1=允许,并使标志位ASCIF=1;0=禁止。 ASCIF:转换完成中断标志。 高电平触发，每次触发，执行连续转换 X 1 1 1 低电平触发，每次触发，执行连续转换 X 1 0 1 上升沿触发，每次触发，执行一次转换 X 1 1 0 下降沿触发，每次触发，执行一次转换 X 1 0 0 忽略外部触发，执行连续转换后 1 0 x x 忽略外部触发，执行一次转换后停止 0 0 x x 描述 SCAN ETRIGE ETRIGP ETRIGLE ATD模块 0 S8C S4C S2C S1C FIFO FRZ1 FRZ0 Slide * A/D 控制寄存器3：ATD0CTL3 S8C、S4C、S2C、S1C：定义转换队列的长度。默认长度为4。 FIFO：结果寄存器先进先出模式。1=FIFO模式，转换结果是连续存放的；0=非FIFO模式，转换结果放在