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用于太阳能电池的多晶硅锭片晶体学特征研究
用于太阳能电池的多晶硅锭片晶体学特征研究 11 用于太阳能电池的多晶硅锭片晶体学特征研究 Featuresof Silicon StudyPolycrystalline Crystallographic forSolarCells Ingot 徐卫平1,王云1,胡 勇1,周 浪2 (1南昌航空大学航空与机械工程学院, XU Yunl,HU Lan92 Wei—pin91,WANGYon91,ZHoU (1SehoolofAeronauticalandMechanical Engineering, 330063,China; NanchangHangkongUniversity,Nanchang 2 ofMaterial School 330031,China) Engineering,NanchangUniversity,Nanchang 摘要:用背散射电子衍射分析技术研究铸造多晶硅锭切片的晶体学特征。结果表明:多晶硅锭晶体内部几乎没有取向 差,取向差主要存在于晶界处;多晶硅锭切片中的大部分晶界为大角度晶界,且以三3为主,同时还存在少量小角度晶界。 多晶硅制作太阳能电池转换率低可能与三3所占比例过高有关。 关键词:多晶硅锭片;EBSD取向差;晶界;23 中图分类号:TN304.052;N16文献标识码:A 文章编号:1001—4381(2009)05一0011一03 studied back Abstract:The characterin silicon was electron grainboundary polycrystallineingot by scattered resultsshowedthattherewas nomisorientationina diffraction(EBSD).The nearly crystal. Themisorientationwas in boundariesof silicon bounda— mainlygrain ingot.Mostgrain polycrystalline rieswereobservedwith boundaries.Z3wasthechiefofthese largeanglegrain largeanglegrain alsoobservedwithalowratio.Low solar boundaries.S
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