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电性测试 產品替換对比分析報告 型號 封裝 腳型 分 類 产品信息 規格書不同項 常規參數測試 非常規參數測試 4、可靠性對比 注1) ：引線基島尺寸是指引線貼晶片位置的尺寸。 批號 本體圖片 印/刻字內容 引線基島尺寸1) (長*寬) 結構圖片 (X光/解剖) 審批：駱宗友 分析人/日期： 審核：尹海軍 组裝工藝 備注 其它說明 3、電性對比（测试数据见附页） 其它測試 (特性曲线) 5、總 結 晶片照片 (解剖图片) 晶片實測尺寸 (長*寬*厚) 1、产品外观對比(尺寸测量单位：mm) 2、原材料對比(尺寸测量单位：mm) 引腳厚度 引線材料 提交样品来源： 产品分析重点： 分析部門：工藝部 焊線直徑/材料 報告編號: / 见附页 本體尺寸 (长*宽*厚) 2.887*1.268*0.903 2.930*1.314*0.980 0.341*0.335*0.179 0.274*0.270*0.209 0.834*0.783 0.856*0.792 导磁 0.021mm(0.8mil)/金焊线 0.68mil/金焊线 焊线工艺 JUNO Test System DTS-1000 DataFileName: C:\DTS\Data\MMBT3906(100-300)-st1.jdf TestFileName: MMBT3906(100-300).jtf Device: Lot: Operator: Comment: Item Name 1 CONT 2 VFBC 3 VFBE 4 ICEO 5 IEB 6 ICBO 7 BVCBO 8 BVCEO 9 BVEB 10 VCESAT 11 VCESAT 12 VBESAT 13 VBESAT 14 HFE 15 HFE 16 HFE 17 HFE 18 HFE Bias1 IB=-1.00mA VCE=-40.0V VEB=-6.00V VCB=-30.0V IC=-10.0uA IC=-1.00mA IE=-10.0uA IC=-10.0mA IC=-50.0mA VCE=-1.00V Bias2 IB=-5.00mA IC=-100uA IC=-100mA Bias3 Vmax=-150V Vmax=-120V Vmax=-30V Min Limit 00.00mV -40.00 V -6.000 V -0.650 V 60.00 80.00 100.0 30.00 Max Limit -200.0mV -1.000 V -2.000uA -50.00nA -250.0mV -400.0mV -0.850 V -0.950 V 300.0 Average -001.4mV -0.722 V -0.726 V -0.024uA -00.95nA -00.38nA -95.39 V -85.32 V -09.07 V -043.5mV -092.6mV -0.754 V -0.844 V 195.8 187.4 142.5 181.9 80.89 STDEV 0.000 0.007 0.005 0.004 0.003 0.746 0.054 0.025 0.029 1.654 1.084 0.752 0.089 1.094 Min Data -001.5mV -0.729 V -0.733 V -0.032uA -01.04nA -00.43nA -95.45 V -92.61 V -09.29 V -048.1mV -097.7mV -0.758 V -0.848 V 169.3 174.6 134.8 169.0 68.63 Max Data -0.703 V -0.708 V -0.014uA -00.89nA -00.35nA -95.35 V -67.47 V -07.53 V -039.2mV -086.5mV -0.742 V -0.830 V 225.5 206.1 154.0 194.0 101.7 Serial# Bin# -0.725 V -00.96nA -00.36nA -95.38 V