2025年大学《光电信息材料与器件-光电材料实验技术》考试参考题库及答案解析.docxVIP

2025年大学《光电信息材料与器件-光电材料实验技术》考试参考题库及答案解析

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一、选择题

1.在光电材料实验中，用于测量材料透光率常用的仪器是（）

A.光谱仪

B.光电二极管

C.透镜

D.滤光片

答案：A

解析：光谱仪是专门用于测量材料在不同波长下透光率或反射率的仪器，能够提供材料的光学特性数据。光电二极管主要用于接收光信号，透镜用于聚焦或散焦光线，滤光片用于选择特定波长的光线，它们都不是专门用于测量透光率的仪器。

2.下列哪种方法不适合用于制备薄膜材料（）

A.溅射沉积

B.溅射镀膜

C.化学气相沉积

D.真空蒸发

答案：B

解析：溅射沉积和溅射镀膜实际上是同一种方法，都是利用高能粒子轰击靶材，使靶材原子或分子溅射出来沉积到基板上。化学气相沉积和真空蒸发都是常用的薄膜制备方法。因此，溅射镀膜不是一种独立于溅射沉积的方法，选项B不正确。

3.在光电材料实验中，用于表征材料晶体结构的方法是（）

A.X射线衍射

B.光谱分析

C.热重分析

D.比表面积测定

答案：A

解析：X射线衍射是表征材料晶体结构的主要方法，通过分析X射线与晶体相互作用产生的衍射图谱，可以获得材料的晶格参数、晶胞结构等信息。光谱分析主要用于研究材料的光学特性，热重分析用于研究材料的热稳定性和相变行为，比表面积测定用于测量材料的比表面积，它们都不是主要用于表征晶体结构的方法。

4.下列哪种材料属于宽带隙半导体（）

A.硅

B.锗

C.碲

D.硫化镉

答案：D

解析：宽带隙半导体是指其带隙宽度较大的半导体材料，通常具有高熔点、高电阻率、化学稳定性好等特点。硅和锗是典型的窄带隙半导体，碲是窄带隙半导体或准金属，而硫化镉属于宽带隙半导体，其带隙宽度约为2.42电子伏特。

5.在光电材料实验中，用于测量材料电阻率的仪器是（）

A.万用表

B.电阻箱

C.电流表

D.电压表

答案：A

解析：万用表是常用的测量仪器，可以测量电阻、电压、电流等多种电学量。在测量材料电阻率时，通常使用万用表的电阻档位，通过测量材料两端的电阻值和材料的几何尺寸，可以计算出材料的电阻率。电阻箱主要用于提供精确的电阻值，电流表和电压表分别用于测量电流和电压，它们不是直接用于测量电阻率的仪器。

6.下列哪种方法不适合用于表征材料的表面形貌（）

A.扫描电子显微镜

B.透射电子显微镜

C.原子力显微镜

D.光学显微镜

答案：B

解析：扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）和光学显微镜都是常用的表征材料表面形貌的仪器。透射电子显微镜（TEM）主要用于观察材料的微观结构和晶体缺陷，它不是主要用于表征表面形貌的仪器，因此选项B不正确。

7.在光电材料实验中，用于制备纳米材料常用的方法是（）

A.溅射沉积

B.溅射镀膜

C.化学气相沉积

D.溅射刻蚀

答案：C

解析：化学气相沉积（CVD）是制备纳米材料常用的方法之一，通过控制反应气体和温度等条件，可以在基板上沉积出纳米尺寸的薄膜或晶体。溅射沉积和溅射镀膜主要用于制备微米级或亚微米级的薄膜，溅射刻蚀主要用于刻蚀材料表面，它们不是制备纳米材料常用的方法。

8.下列哪种材料属于绝缘体（）

A.铝

B.钠

C.氧化铝

D.碳

答案：C

解析：绝缘体是指其电阻率极高的材料，通常不导电或导电性极差。铝和钠是金属，具有很好的导电性，碳（如石墨）也具有一定的导电性，而氧化铝是一种典型的绝缘体，其电阻率极高，常用于制备绝缘材料。

9.在光电材料实验中，用于测量材料吸收系数的方法是（）

A.光谱仪

B.光电二极管

C.透镜

D.滤光片

答案：A

解析：光谱仪是专门用于测量材料在不同波长下光学特性的仪器，包括吸收系数、透光率、反射率等。通过测量材料对光的吸收情况，可以计算出材料的吸收系数。光电二极管主要用于接收光信号，透镜用于聚焦或散焦光线，滤光片用于选择特定波长的光线，它们都不是专门用于测量吸收系数的仪器。

10.下列哪种方法不适合用于制备超晶格材料（）

A.分子束外延

B.蒸发沉积

C.溅射沉积

D.化学气相沉积

答案：B

解析：超晶格材料是由两种或多种不同材料交替沉积形成的周期性结构，其制备通常需要精确控制沉积层的厚度和顺序。分子束外延（MBE）、溅射沉积和化学气相沉积（CVD）都是制备超晶格材料的常用方法，而蒸发沉积通常难以精确控制沉积层的厚度和顺序，不适合制备超晶格材料。

11.在光电材料实验中，用于测量材料折射率的仪器是（）

A.光谱仪

B.折射计

C.透镜

D.滤光片

答案：B

解析：折射计是专门用于测量材料折射率的仪器，通过测量光线在材料中的折射