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综合应力下晶体管长期贮存可靠性的多维度解析与提升策略.docx

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    综合应力下晶体管长期贮存可靠性的多维度解析与提升策略

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    在现代电子设备中，晶体管作为核心部件，承担着信号放大与开关控制的关键任务，是构建各类复杂电路系统的基石。从日常使用的手机、电脑，到航空航天、医疗设备、工业控制等高端领域，晶体管的身影无处不在，其性能与可靠性直接关乎电子设备的整体稳定性、使用寿命及功能实现。随着科技的飞速发展，电子设备正朝着小型化、高性能化、多功能化的方向迈进，对晶体管的性能与可靠性提出了更为严苛的要求。

    在实际应用中，电子设备往往面临着复杂多变的工作环境，晶体管不仅要承受电应力，如电压、电流的波动，还要应对温度、湿度、振动、电磁干扰等多种环

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