第四章抗衰落技术.pptVIP

CRC 校验码 CRC 校验码 CRC根据输入比特序列(SK-1, SK-2, …, S1, S0)通过CRC算法产生L位的校验比特序列 (CL-1, CL-2, …, C1, C0)。 CRC算法如下： 输入比特序列:表示为多项式的系数： 设CRC校验比特的生成多项式:即用于产生CRC比特的多项式 校验比特对应下列多项式的系数： S(D)=SK-1DK-1+SK-2DK-2+…+S1D+S0 第62页，共107页，编辑于2022年，星期二 CRC 校验码（续） Remainder［·］表示取余数。 式中的除法与普通的多项式长除相同，其差别是系数是二进制，其运算以模2为基础。 例如，(D5+D3)/(D3+D2+1)的商为D2+D，余数为D2+D 最终形成的经校验后的发送序列为(SK-1,SK-2, …，S1,S0, CL-1, …, Ｃ1, C0)。 第63页，共107页，编辑于2022年，星期二 生成多项式 生成多项式 是接收方和发送方事先约定好的，也对应一个二进制数，在整个传输过程中，这个数始终保持不变。 在发送方:利用生成多项式对信息多项式做模2除生成校验码。 在接收方:利用生成多项式对收到的编码多项式做模2除,检测和确定错误位置。 生成多项式应满足以下条件： a、生成多项式的最高位和最低位必须为1。 b、当被传送信息（CRC码）任何一位发生错误时，被生成多项式做模2除后应该使余数不为0。 c、不同位发生错误时，应该使余数不同。 d、对余数继续做模2除，应使余数循环。 第64页，共107页，编辑于2022年，星期二 生成多项式（续） 生成多项式的选择不是任意的， 它必须使得生成的校验序列有很强的检错能力。 常用的几个L阶CRC生成多项式为 CRC-16(L=16)： CRC-CCITT (L=16): CRC-32(L=32): g(D)=D16+D15+D2+1 g(D)= D32+D26+D23+D22+D16+D12+D11+D10 +D8+D7+D5+D4+D2+D+1 g(D)=D16+D12+D5+1 第65页，共107页，编辑于2022年，星期二 求校验比特序列示例 例: 设输入比特序列为， 采用CRC-16生成多项式， 求其校验比特序列。 解: 输入比特序列可表示为 S(D)=D7+D5+D4+D2+D1+1 (K=8) CRC-16生成多项式为 g(D)=D16+D15+D2+1 (L=16) 第66页，共107页，编辑于2022年，星期二 求校验比特序列示例（续） 得: =D9+D8+D7+D5+D4+D = 0·D15+0·D14+0·D13+0·D12+0·D11+0·D10+1·D9+1·D8 +1·D7+0·D6+1·D5+1·D4+0·D3+0·D2+1·D1+0 第67页，共107页，编辑于2022年，星期二 求校验比特序列示例（续） 得校验比特序列为: (0000001110110010) 最终形成的经过校验后的发送序列为 (101101110000001110110010) 第68页，共107页，编辑于2022年，星期二 接收端检错 在接收端，接收到的序列为 计算 若 接收的序列正确无误； 发生漏检:R(D)有错，但此时的错误使得接收序列等同于某一个可能的发送序列 若 接收错误 如果循环码有一位出错，对余数补0继续除下去，将发现一个有趣的结果；各次余数将循环出现。例如第一位出错，余数将为001，补0后再除，第二次余数为010，以后依次为100，011…，反复循环，这就是“循环码”名称的由来。 第69页，共107页，编辑于2022年，星期二 卷积码与交织编码 数字化移动信道中传输过程会产生随机差错，也会出现成串的突发差错 CRC校验码主要用来纠正随机差错 卷积码既能纠正随机差错也具有一定的纠正突发差错的能力 交织编码主要用于纠正突发差错 在CDMA移动通信系统中采用了卷积码和交织编码 第70页，共107页，编辑于2022年，星期二 卷积码 卷积码也是分组的， 但它的监督元不仅与本组的信息元有关， 而且还与前若干组的信息元有关。 这种码的纠错能力强， 不仅可纠正随机差错， 而且可纠正突发差错。 卷积码根据需要， 有不同的结构及相应的纠错能力。但都有类似的编码规律。 第71页，共107页，编辑于2022年，星期二 卷积码（续） 以(3，1)卷积码编码器为例 由三个移位寄存器(D)和两个模