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公司名称:深圳市****光电科技有限公司 文件名称:制程检验规范 版次:A/0 文件编号:JN-824 -WI-003-03 Page: PAGE 3 of NUMPAGES 3 生效日期:2007年 05 月 18 日 文件名称: 焊线检查标准图示 1) (抹)掉芯片:粘芯片位置上的银浆有粘芯片的痕迹,但没有芯片。(如下图) 2) 芯片破损:芯片破损或芯片本身已碎(裂纹)(如下图) 3) 芯片铝垫已脱落:芯片电极已脱落或本身就没有铝垫。(如下图)(如下图) 4) 杯中有两个芯片的:杯中有芯片并列在一起时不予焊线。(如下图) 5) 芯片翻转:芯片背面或侧面朝上(如下图)(如下图) 6) 电极沾有银浆或侧面沾有银浆会导致IR。(如下 图) 7) 超芯片1/3H :银浆高度超过芯片高度的1/3(如下图)(视晶片大小而定) 8) 银浆过少(几乎没有):银浆过少会导致芯片固下去沾不牢(如下图) 9) 满杯或二焊点沾有银浆:满杯银浆会导致IR;二焊点沾银浆会导致第二焊点焊不上。(如下图)。 10) 塌线或线偏 11) 虚焊: a 一焊:在晶粒上当时在焊时,温度较高容易焊上,但过了一会,一焊却会松焊。 (甲图)产生一焊松焊的原因有:①芯片表面不净 ②一焊压力太小 ③温度太低 b二焊:在焊二焊点时,当时可焊但过一会儿也会自动翘起。 乙图甲图(乙图)产生二焊松焊的原因有①二焊表面不净②二焊压力、功率过小③温度太低 乙图 甲图 12) 残余金丝:应避免在一焊上或二焊上剩多余金丝(如下图) 13) 焊双线:不能从第一个点到第二个点焊二条线,(如下图) 14) 漏焊:有芯片在杯里,却没有焊线,也有焊线的痕迹。 15) 铝垫破损或芯片缺掉一块:会导致IR及缺亮。 16) 焊线:焊点位置不能偏,一般焊球在2/3铝垫上。下列是不良图示(将铝垫放大) 17) 弧度:弧度要适当,不能太高或太低。 受控/分发状态 修订记录 修订日期 版次 修订者 编制: 审核: 批准:
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