苏州某电子公司QC七大手法教育训练 苏州市欧陆杰电器有限公司.pptVIP

40 30 20 10 SL SU 29 50 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 8 12 15 20 30 40 50 38 30 28 20 10 6 由圖与規格界限比較,可知在規格下限以下的有35件,超出規 格上限的有36件,合計有71件,占總數307件之23.13%,即不良 率為23.13% 3.測知分配形態 由直方圖之形狀,得知制程是否异常. 4.藉以訂定規格界限 在未訂出規格界限之前,可依据所收集編成次數分配表,測知次數分配是否為常態分配;若為常態分配,則可根据計算得知平均數与標准差來訂出規格界限.一般而言,規格下限=平均數-3個標准差;規格上限=平均數+3個標准差. 5.与規格或標准值比較 (1)合乎規格 (A)理想型----制程能力在規格界限內,且平均值与規格中心一致,平均值加減4倍標准差為規格界限.制程變大或變小都不會超過規格值,是一种最理想的直方圖 規格 制品范圍 上限 下限 (B)一側無余裕----制品偏一邊,而另一邊還有余裕很多,若制程再變大很可能會有不良發生,必需設法使制品中心值与規格中心值吻合 規格 制品范圍 上限 下限 (C) 兩側無余裕----制品最大值与最小值在規格內,但都在規格上下限兩端,其中心值与規格中心值吻合,雖沒有不良發生,但若制程稍有變動,就有不良產生之危險,需提高制品精度 規格 制品范圍 上限 下限 (D) 余裕太多----實際制程在規格界限內,但距規格界限太遠,即產品品質均勻,變异小..若此情形為增加成本而得到,故可考慮縮小規格界限或放品質變异,以降低成本,減少浪費 規格 制品范圍 上限 下限 (2)不合乎規格 (A)平均值偏左(或偏右)---如果平均值偏向規格下限并伸展至規格下限左邊,或偏向規格上限并伸展至規格上限的右邊,`,但制品呈常態分配,此即表示平均位置的偏差,應針對固定的設備、 机器、 原料等方向去追查 Su SL SL Su (B)分散度過大---實際制品的最大值与最小值超過規格值,有不良品發生,表示標准大,制程能力不足,應針對變動的人員,方法去追查,要設法使產品的變异縮小;或放寬規格. 規格 制品范圍 上限 下限 (C )完全在規格外---表示制品之生產完全沒有依照規格去考慮;或規格訂得不合理,根本無法達到規格 規格 制品范圍 6. 調查是否混入兩個以上不同群体 如果直方圖呈雙峰型態,可能混入了兩個不同群体,即制 程為兩种不同群体.如:兩個不同班別,線別,材料等,生產出來的制品混在一起.此時,需要將其層別,將不同班別,產線等不擺在一起. 7. 研判設計時的管制界限可否用于制程管制 計量值管制圖如X-R管制圖,當σ 未知,以 作為中心線, +A2 作為管制上限, -A2R作為管制下限,做為設計的管制界限. X X R X 1. 制程精密度Cp(Capability of Precision)之求法: (a) 兩側規格 Cp=(Su-SL)/6 σ=((規格上限)-(規格下限))/(6*(標准差)) 標准差s 平均數 x 六. 制程能力 單側規格 (I) 上限規格 Cp=(Su- )/3 σ=((上限規格)-(平均值))/(3*標准偏差) (II) 下限規格 Cp=( - SL)/3 σ=((平均值)-(下限規格))/(3*標准偏差) X X 制程精密度Cp判定表: 99 68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943% 0 -6σ -5σ -4σ -3σ -2σ -1σ +1σ +2σ +3σ +4σ +5σ +6σ +∞ -∞ 2. 制程精密度(Cp值)与 不良率之關系 定義 (1) 根据所收集的數据,按不良原因、不良狀況、不良項目、不良發生的位置等不同區分標准而加以整理、分類,藉以尋求占最大比率之原因、狀況或位置,按其大小順序排列,再加上累積值的圖形. (2) 從柏拉圖可看出哪一項目有問題,其影響度如何,以判斷問題之症結所在,并針對問題點采取改善措施,故又稱為ABC圖 (3) 又因圖的排列是依大小順序為之,故又稱為排列圖 5.柏拉圖 (1) 柏拉圖的制作方法 步驟1: 決定數据的分類項目 分類方式:a.結果分類包括不良項目別、時間別、工程別;b.原因分類包括材料別、方式別、人、設備別 步驟2: 決定收集數据的期間;并按分類項目,在期間內收集數据 步驟3: 依分類項目別,做數据整理