材料组织分析测试技术.docVIP

课程名称：材料组织分析测试技术 课程代码：230.807 英文名称：Analysis and Measurement Technique for Materials Microstructure 课程类型：√讲授课程 □实践（实验、实习）课程 □研讨课程 □专题讲座 □其它 考核方式：论文 教学方式：上课 适用专业：物理电子学、光电科学与技术、光电信息工程大学物理、第一篇 X 射线衍射(XRD)分析基础第一章 X射线的物理基础1-1 X射线的本质1-2 X射线谱 1-3 X射线与物质的相互作用及X射线的防护 2-1 晶体结构及其表示法 2-2 劳厄方程与布拉格方程 2-3 倒易点阵与厄瓦尔德图解 2-4 倒易点阵与衍射之间的关系 第二章 多晶体分析方法 2-1 单个电子、原子对X射线的散射 -2 一个晶胞、小晶体对X射线的散射 -3 多晶衍射的积分强度 -4 德拜-谢乐法 -5 衍射仪法 第章 物相分析 3-1 定性分析 定量分析 第二篇 电子显微分析 第章 电子光学基础及透射电子显微镜 4-1 电子波长、静电透镜及电磁透镜 象差、分辨、景深及焦长 透射电镜的构造 透射电镜的分辨本领和放大倍数 第章 透射电镜的样品制备 5-1 复型技术 -2 薄膜样品及其他样品 第章 电子衍射 6-1 晶带定理 -2 电子衍射基本公式及相机常数 -3 透射电镜中的电子衍射及选区电子衍射 -4 多晶及单晶电子衍射花样标定 第章 薄晶体的衍衬分析 7-1 电子衍衬原理，明场和暗场成象 -2 电子波在晶体之中的散射 -3 完整晶体及缺陷晶体运动学理论 第章 扫描电镜与电子探针 8-1 扫描电镜的原理及构造，应用 -2 电子探针的原理及应用 第三篇 表面分析第章 绪论 9-1 表面科学与表面分析技术 2 表面分析应用 第十章 低能电子衍射(LEED) 10-1 单晶表面、二维晶格 10-2 LEED装置 10-3 二维晶格的LEED图案 第十章 场电子显微镜（FEM）与场离子显微镜（FIM） 11-1 场电子发射与场电子显微镜 11-2 场解吸、场蒸发、场电离 11-3 场离子显微镜 11-4 扫描隧道显微镜、原子力显微镜 第十章 X射线光电子谱仪（XPS）及紫外光电子谱仪（UPS） 12-1 概述 12-2 X射线光电子谱仪（XPS）的原理 12-3 X射线光电子谱仪（XPS）的定量分析 12-4 紫外光电子谱仪（UPS） 第十章 俄歇电子能谱仪（AES） 13-1 基本理论 13-2 俄歇电子能谱仪（AES）的实验装置 13-3 俄歇电子能谱（AES）分析 13-4 俄歇电子能谱仪（AES）的应用 第十章 二次离子质谱仪（SIMS）与离子探针 14-1 离子与表面的相互作用 14-2 二次离子质谱仪（SIMS） 14-3 二次离子质谱仪（SIMS）分析方法和应用 14-4 离子探针