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显 微 设 备;熟练掌握仪器使用要具备：;主讲内容;显微镜发展历史;光学显微镜;　　1938年：第一台透射电子显微镜（TEM）。 1952年：第一台扫描电子显微镜（SEM）。 电子显微镜的分辨率可以达到纳米级（10-9m）。;显微镜的种类;医学常用显微镜;荧光显微镜;1.符号;显微镜上的标记都代表什么意义？ 1、相差物镜上标记的Ph1、Ph2、Ph3是什么意思？ 相差物镜要配合安装在聚光镜的环状光阑来使用。光阑的直径要与物镜的NA值相匹配。Ph1表示物镜的NA值不超过0.50；Ph2表示NA值在0.55至1.0之间；Ph3表示NA值大于1.0（油镜）。长工作距离的物镜使用专用的相差环。 2、目镜上标记的“C”、“K”、“WF”、“H”代表什么意思? 一些物镜对于侧面的色差不能校正，就需要装配补偿目镜（标记“C”、“K”）来提高成像质量。“WF”指“广视场”，“H”指“高眼点”。 3、物镜上标记的“160”是什么意思？ 这个标记表示物镜是有限远光学系统的，160MM的光学筒长指从物镜转盘（物镜安装处）到观察筒顶部（目镜安装处）的距离。 4、对于“LWD”或 “ULWD”对物镜表示什么意思？ 这些长工作距离和超长工作距离物镜，他们的工作距离指物镜前端聚焦到样品的距离比其他物镜的工作距离要长。 5、物镜上标记的颜色代表什么意思？ 物镜上的颜色代表着放大倍率，红色标记表示放大倍率为4倍或5倍，黄色代表10倍，绿色代表20倍，蓝色代表40倍，50倍或60倍。白色代表100倍。 显微镜上配置的灰色滤色片上，数字25 、50 是什么意思？ 用于衰减光的亮度用的，25 是指25%的光透过。;注意事项;数码互动实验室;显微数码互动实验室;原子力显微镜Atomic Force Microscopy;主要内容;工作原理;　　1982年，Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明扫描隧道显微镜（STM )，获得1986年的诺贝尔物理学奖 。;基本原理; 1986，IBM，葛·宾尼（G. Binnig）发明了原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM)——新一代表面观测仪器．;基本原理;sample;基本原理;AFM信号反馈模式;力检测部分;接触模式 (contact mode) 非接触模式 (non-contact mode) 轻敲模式 (tapping / intermittent contact mode) ; 针尖始终向样品接触并简单地在表面上移动，针尖—样品间的相互作用力是互相接触原于的电子间存在的库仑排斥力，其大小通常为10－8 —10－11N。; 优点：可产生稳定、高分辨图像。 缺点： 可能使样品产生相当大的变形，对柔软的样品造成破坏，以及破坏探针，严重影响AFM成像质量。; 相互作用力是范德华吸引力，远小于排斥力. ; 优点：对样品无损伤 缺点： 1）分辨率要比接触式的低。 2）气体的表面压吸附到样品表面，造成图像 数据不稳定和对样品的破坏。 ; 介于接触模式和非接触模式之间: 其特点是扫描过程中微悬臂也是振荡的并具有比非接触模式更大的振幅(5~100nm)，针尖在振荡时间断地与样品接触。 ; 特点： 1）分辨率几乎同接触模式一样好； 2）接触非常短暂，因此剪切力引起的对样品的破坏几乎完全消失； ;工作模式-轻敲模式;相位成像(phase imaging)技术 通过轻敲模式扫描过程中振动微悬臂的相位变化 来检测表面组分,粘附性,摩擦,粘弹性和其他性质 的变化.;基本原理;基本原理;原子力显微镜之解析度;基本原理;基本原理;氮化硅探针针尖放大图;为克服“加宽效应”： 一方面可发展制造尖端更尖的???针技术， 另一方面对标准探针进行修饰也可提高图像质量。 ;AFM技术的主要特点:;主要内容; ; 生物和生命科学 ;用AFM观察DNA双螺旋结构;用AFM观察细胞生长;用AFM观察集成电路的线路刻蚀情况;高分子领域的应用;聚合物膜表面形貌与相分离观察;聚合物膜表面形貌与相分离观察;高分子结晶形态观察;聚苯乙烯/聚甲基丙烯酸甲酯嵌段共聚物的苯溶液在ＬＢ膜槽内分散,而后在极低的表面压下(0.1ｍＮ/ｍ)将分子沉积在新鲜云母表面。;AFM在聚合物膜研究中的应用;1 表面整体形态研究;2 孔径(分布),粒度（分布）研究;Section analysis of TM-AFM image.