是德科技从研发到制造全程使用一致的射频微波测量-Keysight.PDFVIP

是德科技 从研发到制造全程使用一致的射频/微波测量， 加速产品上市时间 应用指南 为您的电子产品开发生命周期的每个阶段选择最适合的信号发生器或信号分析仪的 同时，您可以保持一致的测试结果。通过与是德科技的台式和模块化信号发生器和 信号分析仪配合使用，经过验证的是德科技射频/微波测量软件能实现测量的一致性。 引言 从根本上来说，射频/微波测试的复杂性越来越高。现代无线系统实现了复杂的多路复用和 传输方案--调制复杂程度更高、信道数量更多、带宽更宽等等。所有这些系统在其整个开发 周期中都需要高性能和复杂的信号测试，从基本信号质量（如功率和失真）测试到高级调制 分析和验证。 测试策略对能否成功设计和制造电子器件有很大影响，更不用说产品质量和上市时间。然 而，即使是使用最周密的测试策略，要想获得一致的测量结果也是一个挑战。一些工程设计 团队可能选择从研发至制造全程使用相同类型的测试仪器，以保持测量的一致性。其他工程 设计团队则为了特定的测试需求而选择最好的设备，然后花时间来调和由于设备来自不同的 供应商和/ 或由于仪器形式不同而产生的测试结果的差异。挑战在于在为了特定目的使用最 佳仪器的同时，还要实现一致、可靠的测量结果。 本应用指南提供了一个不会影响任何其他性能的解决方案，可在整个产品开发周期中，使不同 类型的仪器获得相互关联和一致的测量结果。 03 | 是德科技 | 从研发到制造全程使用一致的测量，加速产品上市时间—应用指南 问题：从研发到制造，射频/微波测量不 在产品开发周期中选择最佳仪器 一致 为加速设计流程，在整个产品开发周期中选择恰当的仪器以满 随着新的电子器件经过开发周期的各个阶段，根据特定工程设计 足特定的测试需求，这一点是非常重要的。选择标准包括：性 部门或产品开发阶段的需要，设计人员可能会使用来自不同供应 能技术指标和特征、成本、尺寸、速度、可扩展性等。 商的各种仪器来设计和验证该电子器件的性能。虽然使用不同的 仪器来满足不同的需求有明显的优势，但这种做法会导致开发周 通常，当测试工程师需要单机性能最佳的仪器时，专用的台式 期中的测量无法达到一致，需要加以调和，从而减缓产品上市时 仪器是他们的理想选择。台式仪器经常在设计阶段使用，因为 间，降低生产吞吐量，并增加设计和生产成本。 它们通常包含一个前面板，方便用于分析和调试。 研发、验证和制造团队可能使用不同的仪器并采用不同的测试策 模块化仪器是多仪器和多通道应用的理想选择，多个仪器可 略。当产品从产品开发生命周期中的一个阶段进入到下一个阶段 以组合安装到单个机箱中，提供占用更少空间的紧凑型解决方 时，这些差异可能导致测量精度的不同和测量结果的不一致。基 案。虽然通常台式仪器单独来看较为便宜，但是当多个仪器组 于样本处理的测量可为测试工程师提供意义重要的信息。如果在 合安装到单个机箱中时，模块化解决方案却更便宜，因为开销 整个产品开发周期中用于处理这些数据的样本和算法不一致，那 成本可以分摊在多个仪器上。由于模块化仪器占用空间更小， 么得到的测量结果可能也不一致。要找出不一致的根源可能会很 速度更快，成本更低，所以通常是在设计验证或制造流程中使 困难，而且容易引起各工程设计团队之间相互指责。而且由于不 用，但它们也可以用于多通道或 MIMO （多路输入多路输出） 知道不一致是由于流程、测试操作员、仪器、软件还是产品本身 器件的设计研发。 引起的，所以设计人员还需要花费大量时间和资金消除这些不一 致问题和/或跟踪不一致的源头。 04 | 是德科技 | 从研发到制造全程使用一致的测量，加速产品上市时间—应用指南 特定应用的要求 通过使用基于同一测量算法的射频/ 微波硬件和软件，工程师 可以利用熟悉的用户界面和共享的编程命令生成一致的测量 在选择测试仪器时，没有“万能”的办法。不同的产品开发阶段 结果。是德科技的解决方案组合均采用了相同的测量算法，具 （即研