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EILog-05组合测井系统 补偿中子测井仪刻度 吴永安 2006年3月18日 刻度的概念： 补偿中子测井仪的一级刻度，就是要把仪器在测井过程中所得到的计数率和地层孔隙度之间建立一个数学模型。如何有效的建立这一数学模型，最大限度的减小因地面系统数据处理所带来的误差，是摆在仪器刻度工作的技术关键。 补偿中子测井仪的二级刻度，是指仪器经过长时间使用或者主要器件（探测器、整机电路板等）经过维修后，仪器状态发生了变化，为了校正这一变化所作的刻度，就是仪器的二级刻度。通俗的讲，一级刻度就是工程量与物力量的关系。二级刻度，则是工程量和工程量之间的关系。 补偿中子测井仪一级刻度： 原理：在理论上，补偿中子测井仪的长、短源距的两道计数率的比值R与地层孔隙度Ф的对数之间有非常近似直线的关系。可以将补中Ф-R计算公式表达为： LnФ = a*R + b （1） 但由于各方面因素的影响，这条直线并不完全是直线。如果按照直线方程来处理测井数据，将会带来测井误差。为了尽可能减小误差，我们采用曲线方程来拟合Ф-R计算公式。CSU必威体育精装版的处理公式是：在低孔隙段用的是倒数曲线公式。中、高孔隙段用的是两段直线公式。笔者的观点，无论用哪种公式，都应该以仪器实际刻度数据为准。哪种曲线能最大限度的将刻度点落在曲线上，相关系数最大，我们就采用哪种公式。目前成套装备补偿中子测井仪采用三次曲线方程。相关系数在0.998以上。如果采用四次曲线方程，我们发现四次系数非常小，而且相关系数也没有三次曲线的相关系数大。因此，成套装备补偿中子测井仪采用三次曲线方程来处理测井数据。 刻度步骤： 刻度井井况介绍： 西安刻度中心有9口补偿中子刻度井。刻度井参数如下：（备注里的内容为本人多次刻度，对刻度井的了解，纯属经验，无理论根据，无实验数据支持） 井号 孔隙度 地层深度（米） 备注 20＃ 0.1 1.3－0.9 盖层与地层错位，仪器靠东面贴合效果较好 22＃ 5.0 1.4－1.0 25＃ 13.2 0.93（中点） 07＃ 20.2 1.3－0.9 26＃ 23.5 0.9（中点） 该井误差较大，不参加刻度 23＃ 30.0 1.4－1.0 仪器需要靠西面贴合 04＃ 37.2 1.3－0.9 24＃ 52.6 1.4－1.0 仪器需要靠南面贴合 32＃ 100 ―― 仪器尽可能下深点 刻度前，检查仪器是否工作正常，检查地面系统是否工作正常，并办理放射性中子源出库手续。 确定仪器记录点，根据刻度井的地层深度，对仪器下井位置做好标记。 将工作正常的仪器吊入刻度井中，要求保证良好的贴壁效果，并将仪器的计录点对准刻度井的中间位置。 仪器与地面连接，通电工，观测仪器本底。自然界不存在中子射线，因此中子仪器本底应为零。长源距偶尔会出现一个计数，为仪器电路干扰，可忽略不计。如果仪器存在一个以上的本底，则需要检查仪器。 装上 Am--Be中子源。地面系统开始采用长短源距计数率。取300秒平均值。 根据仪器的计数率，求出仪器在每一口刻度井中对应的比值R，以比值R为横坐标，孔隙度Ф为纵坐标，如下图。 根据这些刻度点数据可以计算出R－Ф关系曲线。其中R的指数的大小由刻度点的分布来决定。相关系数为0.999。这就是仪器的一级刻度。 一级刻度注意事项： 确保仪器记录点对准地层中点。外单位同类仪器刻度时，取上、中、下三个位置进行刻度，有的甚至取五个位置进行刻度，然后计算平均值，认为这样可以减小误差，本人认为，只要仪器记录点对准地层中点，其它位置所测量的数据无效。让那么多无效的数据参加平均运算，只会增加仪器刻度误差。 刻度井的方位问题。由于刻度井的均匀性上的差别，有时需要东南西北四个方位进行测量。有的刻度井在不同方位上存在误差。刻度井的方位在刻度井数据里有说明。 采样时间：地面读取仪器计数率时，采用时间不能小于300秒。 重复测量：仪器完成刻度后，需要选择一个刻度井，进行重复测量。重复测量的意义在于检验仪器的稳定性，也可以确定刻度是否真实有效。 补偿中子测井仪二级刻度： 原理：下图所示的是成套装备补偿中子测井仪采用的二级刻度器。刻度器里注满纯净水。考虑到使用环境，有的刻度器里需要添加防冻液。刻度器一经调试，就不能随意更改纯净水和防冻液的比例。二级刻度器最好能放置在温度比较恒定的室内，温度不同，刻度器里充满的纯水密度会有差异。 二级刻度器容积约1.287m3,罐长2.23m，内径0.2m,外径1.26m,内充纯净水矿化度低于182mg/L。刻度器安放的周围10米内应无任何放射源及较大金属物体，刻度场内磁感应强度小于2×10－4特拉斯（2Gs）。 刻度过程为：仪器与地面连接，将仪器插入刻度仓，仪器的源仓从刻度仓另一端伸出，通电，仪器工作正常后，