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数字电路实验中常见故障及排除方法 数字电路实验中常见故障及排除方法 一、集成逻辑门实验常见故障 二、组合逻辑电路设计实验常见故障 三、触发器实验常见故障 四、计数器实验常见故障 五、集成电路综合应用实验常见故障 一、集成逻辑门实验常见故障 现象一 ：集成电路芯片发热 原因1： 电源极性接反 排除方法：将电路断电，检查电源极性是否接错。 原因2：? 芯片损坏 排除方法： 换一片相同型号的芯片 一、集成逻辑门实验常见故障 现象二：当输入信号变化，逻辑门输出不变 原因1： 芯片电源，地线接触不良 解决方法：用三用表直流电压档测量芯片的电源和地线，检测电压是否正确。 原因2： 输出信号至芯片的信号线接触不良 解决方法： 断开电路，用三用表电阻档测量信号线是否接触良好。 原因3： 芯片型号错 解决方法： 重新审核芯片型号，是否用错 原因4： 芯片损坏 解决方法： 换同型号芯片 二 、组合逻辑电路设计实验常见故障 现象一：芯片发热 原因1：? 多个芯片发热 解决方法：检查总电源极性是否接反。 原因2： 某一个芯片发热 解决方法：检查此芯片电源极性是否接反或芯片已损坏。 二 、组合逻辑电路设计实验常见故障 现象二：改变电路输入而输出始终保持不变 原因1：? 电路中芯片电源、地线接触不良 解决方法：用三用表直流电压档测量电路中芯片的电源、地线，观察电压是否正常。 原因2： 电路中某个芯片型号错 解决方法： 重新审核芯片型号 原因3： 电路中某个芯片已损坏 解决方法： 换同型号芯片 二 、组合逻辑电路设计实验常见故障 现象三：电路输出部分状态不正确 原因1： 电路中信号线接错 解决方法：对照电路图仔细检查每一根信号线连接是否正确 原因2： 电路中信号线有断线或接触不良 解决方法：用三用表电阻档测量每一根信号线是否连接良好 原因3： 电路中二个或二个以上逻辑门的输出端相连。 解决方法：实验中所用逻辑门均为推挽输出。而推挽输出端是不允许相互连接的。 原因4： 电路设计可能错误 解决方法：重新审核设计电路是否正确。 三、 触发器实验常见故障 现象一：触发器逻辑功能、间断正常 原因： 触发器的置0或置数端悬空。 解决方法：将触发器的置0，置1端接高电平。 三、 触发器实验常见故障 现象二：当改变输入而触发器的输出始终保持不变时 原因1： 触发器置0或置1端被接至低电平 解决方法：用三用表直流电压档测量置0或置1端，测量是否为高电平。 原因2： 对触发器边沿触发特性概念不清，电路一切正常。因概念不清，操作错误。 解决方法：重新看触发器的基本原理。 原因3： 电路连接错。 解决方法：对照电路图检查信号连接. 退出 四 、计数器实验常见故障 现象一：计数器不计数 ： 原因1：计数器芯片控制引脚悬空 解决方法：计数器芯片一般都有控制引脚输入，用来控制芯片置数、清零所有控制引脚都不要悬空处理，悬空容易引入干扰。 原因2: 计数器芯片控制引脚信号线接触不良 解决方法：用三用表直注电压档测量芯片控制引脚电平状态，从而判断信号线是否接触良好。 退出 四 、计数器实验常见故障 现象一：计数器不计数 ： 原因3：计数器芯片电源，地线接触不良 解决方法：用三用表直流电压档测量芯片的电源、地线。观察电压是否正确。 原因4：没有时钟信号输入 解决方法：用示波器观测连续时钟信号，用三用表直流电压档观测单脉冲信号，观察是否有时钟信号，时钟信号高、低电平是否为TTL电平。 TTL高电平：2.4V～5V TTL低电平：0V～0.3V 退出 四 、计数器实验常见故障 现象二：计数器计数进制不对 原因：没有产生置数（或清零）信号 解决方法：构成任意进制计数器，应该在计数器要求的状态产生置数（或清0）信号。测量是否有此信号。 退出 四 、计数器实验常见故障 现象三：计数器计数进制正确，而显示值不对 原因：计数器输出信号到显示器件的信号线次序连接错误。 解决方法：对照电路图，检查信号线。 退出 五 、集成电路综合应用实验常见故障 实验内容时序逻辑电路设计和组合逻辑电路设计组成。电路中所用芯较多，电路完成后，调试非常重要。调试时，应把各个单元电路调试正确，然后再联调。常见故障如下： 退出 五 、集成电路综合应用实验常见故障 现象1：计数器故障 解决方法：见实验四计数器常见实验故障 现象2：无值产生器故障 解决方法：主要是74LS138芯片没有正确使用，检查 74LS138芯片