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第31卷 第 5 期 电 波 科 学 学 报 Vol .31，No . 5 2016 年 10 月 CHINESE JOURNAL OF RADIO SCIENCE October,2016 刘潇，GENTLE David •外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估[ J ] . 电波科学学报，2016, 31 (5 ): 1004-1008. DOI: 10. 13443/j. cjors. 2015112301 LIU X, GENTLE D. A method to evaluate the chamber reflection effect for antenna gain measurements using an extrapolation range [J]. Chi­ nese journal of radio science, 2016, 31(5) • 1004-1008. (in Chinese). DOI ：10. 13443/j. cjors. 2015112301 外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估 刘潇1 David G en tle 2 (1.中国计量科学研究院(NIM )，北 京 100029; 2, National Physical Laboratory (NPL) Teddington TW11 0LW) 摘 要 介 绍 了 外 推 法 技 术 ，在此基础上提出一种基于几何光学的吸波材料影响评估方法.该方法可以 在数字滤波后有效模拟并引入反射信号，通 过 比 较 两 次 外 推 后 的 数 据 ，得到对增益测量的影响评估结果.在 中国计量科学研究院（ N ational Institute of M etrology ，N IM ) 的外推法装置中进行实验验证 ，结果 表 明 ：该方 法可以有效模拟吸波材料的影响，并 给 出 由 吸 波 材 料 引 入 的 增 益 测 量 不 确 定 度 分 量 .该 方 法 目 前 已 应 用 到 N IM 和英国国家物理研究院 （ National Physical L aboratory ,N P L ) 的外推法测量结果评定中，不仅对于外推 法 ，对于在暗室中进行的其他天线测量结果的评估也具有很好的参考价值. 关键词外推法；天线增益；吸波材料反射率；不确定度评定 中图分类号 TN 015 文献标志码 A 文章编号 1005-0388(2016)05-1004-05 DOI 10. 13443/j . cjors . 2015112301 A method to evaluate the chamber reflection effect for antenna gain measurements using an extrapolation range LIU Xiao 1 DAVID Gentle2 (1, National Institute o f Metrology r Beijing 100029 ? China, 2. National Physical Laboratory ■, Te ington T W 11 0L W , the Unite Kingdom) Abstract The extrapolation technique is introduced ? and an absorber effect evaluation method is