vlsi系统级软错误可靠性评价综述 vlsi system-level soft error reliability evaluationa survey.pdfVIP

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2017-09-05 发布于上海
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vlsi系统级软错误可靠性评价综述 vlsi system-level soft error reliability evaluationa survey.pdf

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vlsi系统级软错误可靠性评价综述 vlsi system-level soft error reliability evaluationa survey

CN 43—1258／TP 计算机工程与科学第35卷第3期2013年3月 ISSN1007—130X ComputerEngineeringScienceV01．35，No．3，Mar．2013 文章编号：1007—130X(2013)03—0015一i0 VLSI系统级软错误可靠性评价：综述朱丹，李暾，李思昆 (国防科学技术大学计算机学院，湖南长沙410073) 摘要：由空间辐射、噪声干扰等环境问题引发的软错误给VLSI设计可靠性．带来了严峻挑战。由于目前的软错误保护机制通常都基于冗余，因此，对电路进行完全的软错误保护需要的容错代价十分高昂，只能对设计进行有选择性的保护。软错误可靠性分析是有选择性保护的关键。为了在同时满足多种设计目标的前提下有效部署容错机制，平衡可靠性需求与容错开销，软错误系统级可靠性评价至关重要。按照核心技术的不同，本文对已有的软错误系统级可靠性评价方法进行分类及介绍，并详细分析了各类方法的进展和优缺点，总结了已有方法存在的问题和面临的挑战，指出了未来的发展方向。关键词：软错误保护；可靠性分评价中图分类号：TP302．8 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1007—130X．2013．03．003 VLSI softerror evaluation：A system。level reliability survey ZHUDan，LITun，LISi—kun (Schoolof ofDefense Science，National 410073，China) Computer University Technology，Changsha Abstract：Thesofterrorinducedvariousenvironment asradiationandrandom by problems，such noise，has asacritical inVLSI mostofthemethodsforsofterror emerged challengedesigns．Since pro— tectionarebasedon costoffullsofterror is redundancy，the protectionunacceptable．Thus，thedesigns can be softerror evaluationisthe c,fselective onlyselectivelyprotected．Thereliability key protection．In ordertOmakeCOSt—effectivetradeoffbetween andvariousoverheadfrom softer— reliability hardening，the For evaluationat leveliscrucial．The classifiesthe reliability firstly system—level system paper existing softerror evaluation theircore