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2017-09-05 发布于上海
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wcsd动态检测方法 dynamic wcsd test approach for embedded systems.pdf

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wcsd动态检测方法 dynamic wcsd test approach for embedded systems

计算机工程与设计 2012 2012年7月 July 第33卷第?期 COMPUTERENGINEERING．NrDDF—SIGN V01．33No．7 WCSD动态检测方法李显杰，周宽久，王洁+，崔凯，苏翰 (大连理工大学软件学院，辽宁大连116621) 摘要：嵌入式软件最大堆栈深度(worst-case-stackdepth，WCSD)是指导硬件设计和软件开发的重要指标，然而它的测量却极其困难。通过详细分析堆栈使用原因及其相互关系，建立多层中断叠加模型并提出一种WCSD动态检测方法，以检测嵌入式软件堆栈深度上限。同时．基于嵌入式软件全数字仿真平台完成实验以验证该模型和方法的可行性。实验结果表明，该模型和方法可测得较准确的wCSD结果，有助于在降低内存开铕，保证嵌入式系统的堆栈安全以及提高嵌入式软件的可靠性。关键词：嵌入式软件测试；最大堆栈深度(WCSD)；中断嵌套；中断状态；多层中新叠加模型中图法分类号：TP311文献标识号：A 文章编号：1000-7024(2012)07—2607—08 WCSDtest forembedded Dynamic approach systems LI Kai，SUHan Jie+，CUI Xia—ie，ZHOUKuan-jiu，WANG (SoftwareSchool，INlianof 116620，China) UniversityTechnology，Dalian of Abstract：Theworst-case-stack embeddedsoftwareisaIl indicatorhardwareandsokware depth(W(：SD)of important design difficulttOmeasure．ToobtainanexactWCSDvalue，amulti-tier model development．However，its interruptsuperposition andfl test are thefactorsofstack indetailTo their dynamicapproachproposedthroughanalyzing occupancy verify feasibility， the ail isconductedonallembeddedsoftwaresimulation the resultsshowthat experiment digital experimental platform．And moddandthe can amoreaccurateWCSDvalue，andwouldbebeneficialtOreducethetotal costand approachgive memory