利用少数相关位的soc测试数据压缩方法 test data compression of system-on-chip (soc) using few relevant bits.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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利用少数相关位的soc测试数据压缩方法 test data compression of system-on-chip (soc) using few relevant bits.pdf

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利用少数相关位的soc测试数据压缩方法 test data compression of system-on-chip (soc) using few relevant bits

第27卷第1期电子测量与仪器学报砌t27Ⅳ0．1 · 76· JoU心ALoFELECTRoNIcMEASUREMENTAND翻STRUMENT2013年1月 DOI：10．3724／SP．J．1187．2013．00076 利用少数相关位的SoC测试数据压缩方法木欧阳一呜1黄贵林1梁华国2谢涛1，3黄正峰2 (1．合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009；2．合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009； 3．美国圣地亚哥州立大学计算机科学系圣地亚哥CA921821 摘要：随着系统芯片集成度的提高，芯片所需要的测试数据也越来越庞大，为解决由此带来的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾，提出了一种基于数据块之间极少数相同位或极少数不同位的测试数据压缩及解压算法。根据数据块之间这些极少数相同位或极少数不同位，低频次数据块与参与Huffman编码的高频次数据块取得相关性联系，并通过一定的方式共享其较短的哈夫曼码字，从而精简Huffman编码状态表，达到测试数据压缩的目的。与同类经典方案相比，实验表明该方案的平均压缩率提高了6．11％一22．89％，且算法简单。关键词：相关位；哈夫曼：测试数据压缩中图分类号：TP302 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．3040 Testdata of fewrelevantbits compressionsystem·-on--chip(soOusing Guilinl XieTa01-3 Huang Huagu02 Zhengfen92 OuyangYimin91 Liang Huang and ofElectronicScience (1．SchoolofComputerInformation，HefeiUniversityofTechnology,Hefei230009，China；2．School StateUni- Science，San AppliedPhysics，HefeiUniversityofTechnology,Hefei230009，China；3．DepartmentofComputer Diego 1 versity,SanDiego，CA9282，USA) datafor Abstract：Withthe of amountoftest the is increas— improvementystem—on—chipintegration，large chiprequired solvethecontradictionbetweenthe andbandwidthofautomatictest new ingly．To storagecapacity equipment(ATE)，a is or bitsbetweendifferentblocks．