利用保偏光纤马赫-曾德(mz)干涉仪测量薄膜材料电光系数 electro-optical effect measurement of thin-film material using pm fiber mach-zehnder interferometer.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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利用保偏光纤马赫-曾德(mz)干涉仪测量薄膜材料电光系数 electro-optical effect measurement of thin-film material using pm fiber mach-zehnder interferometer.pdf

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利用保偏光纤马赫-曾德(mz)干涉仪测量薄膜材料电光系数 electro-optical effect measurement of thin-film material using pm fiber mach-zehnder interferometer

第28卷第7期半导体学报 V01．28No．7 JOURNALOFSEMICONDUCTORS 2007年7月 CHINESE July，2007 of Material EffectMeasurementThin-Film Electro--Optical PM Mach—ZehnderInterferometer+ UsingFiber Tu Lei，Chen Shaowu，Zu0Yuhua， Xiaoguang’，ZhaoPing，Chen Yu Qiming Jinzhong，andWang Semiconductors， (State ofIntegrated0ptoelectronics，Instituteof KeyLaboratory Chinese of 100083，China) AcademySciences，Beijing Mach．Zehnder(MZ)interferometerhasbeenestablishedto Abstract：Apolarization．maintaining(PM)fiber of thin materialswith acommonMZinterferometer， measuretheEOeffect film very opticalanisotropy．Unlike fibers．Atthesame DFBlaserwith “lthe areconnectedvia time，a components polarization．maintaining polarized amaximum oflOmWis asthe sourcetoinducea extinctionratio。Here，wetake poweroutput adoptedlight large determinethe coefficientsofa thin structurewithGaAs，KTP，andGaNas itto electro．optical very superlattice show withtheothers． measuredEOcoefficients comparativesamples。The goodcomparability interferometer Keywords：electro-optic fiber；Mach—Zehnder