等离子喷涂制备压电石英膜材料及性能分析 preparation of piezoelectric quartz film material by plasma spraying and its performance analysis.pdfVIP

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等离子喷涂制备压电石英膜材料及性能分析 preparation of piezoelectric quartz film material by plasma spraying and its performance analysis

第35卷第4期 兵器材料科学与工程 V01.35No.4 2012盘 ANDENG矾EERING 7B 0ImNANCEMAl哐R工AL她NCE July,2012 网络出版时间:2012-07-1122:44:44 网络出版地址:hup://www.cnki.nm/kcms/mil/33.1331.TJ2244.002.hlml 等离子喷涂制备压电石英膜材料及性能分析 张剑。陈文革,王艳丽,赵姗姗,卓磊 (西安理工大学材料科学与工程学院.陕西西安710048) 擅要采用大气等离子喷涂技术制备SiO:膜压电材料,利用XRD和SEM研究其组织结构,同时对其介电常数£、介电损 耗ta∞、压电常数如、机械品质因数p等性能进行测试。结果表明:采用大气等离子喷涂工艺可制备出相结构主要由a一 石英和p方石英共同组成组织较为致密、缺陷较多的SiO:压电膜,压电常数d。和介电常数s.随膜厚度的增加而增加, 介电损耗ta∞随膜厚度的增加而减小;介电常数轧介电损耗t柚、机械品质因数Q随频率的增加而减小,当SiO:膜厚为5 mm,压电常数击,最大值为2.3 pC/m。 关键词等离子喷涂;S她膜;压电材料;压电性能 中圈分类号TQl7 文献标识码A 文章编号1004-244X(2012)04--0053--04 0f m砒eliaI andit8 Preparationpi瑚删山圯吨qI斌z矗lm byplasma印朔yingpBr|‰ⅢIa玎伪毗Ia:【yBi8 (SchoolMMaterialsScience fdms micmstructure ofthickfdms Absu嘲Sinwere and successfullypreparedbyplasmasprayingtechnique.The properties results Ⅷstudied electron diffraction(xRD).Theshowthatthe structureof by microscope(SEM)andX.ray scanning phase thickfilmam anda--cristobalite.Butthe Si02 thickfilmis Si02piezoelectricmainlycomposedofa·quartz preparedpiezoelectric characterized defect andlow constantd3,anddielectricconstant晶 byIa噌”pores,thela增er density density.Piezoelectric increaseswithSi02filmthickness.dielectriclosstan8decreaseswithSi02lilmthickness.Dielectricconstant晶anddielectric 5mill,tlle ma

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