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“微电子学概论”第5章集成电路设计2

集成电路设计II;分层分级设计思想 设计信息描述方法 图形描述 语言描述 IC设计流程 (TOP-DOWN) 系统功能设计 逻辑和电路设计 版图设计 ;OUTLINE;种类繁多的集成电路;集成电路设计中要考虑的因素;衡量集成电路设计是否成功的参数:; ; 设计规则的表示方法 以?为单位:把大多数尺寸(覆盖,出头等等)约定为?的倍数 ?与工艺线所具有的工艺分辨率有关,线宽偏离、理想特征尺寸的上限以及掩膜版之间的最大套准偏差,一般等于栅长度的一半。 优点:版图设计独立于工艺和实际尺寸,使设计规则简化。 缺点:造成芯片面积的浪费或工艺难度增加。 以微米为单位:每个尺寸之间没有必然的比例关系。 提高每一尺寸的合理度;简化度不高;全定制设计方法、定制设计方法、半定制设计方法、可编程逻辑器件以及基于这些方法的兼容设计方法; 设计方法选取的主要依据:设计周期、设计成本、芯片成本、芯片尺寸、设计灵活性、必威体育官网网址性和可靠性等 最主要的:设计成本在芯片成本中所占比例 芯片成本CT: ;全定制设计;全定制设计流程;OUTLINE; 专用集成电路(ASIC:Application-Specific Integrated Circuit)(相对通用电路而言) 针对某一应用或某一客户的特殊要求设计的集成电路 批量小、单片功能强:降低设计开发费用 主要的ASIC设计方法: 标准单元设计方法(Standard Cell):定制 积木块设计方法(Building Block Layout):定制 门阵列设计方法(Gate Array):半定制 可编程逻辑器件设计方法;标准单元设计方法(SC方法);芯片布局:芯片中心是单元区,输入/输出单元和压焊块在芯片四周,基本单元具有等高不等宽的结构,布线通道区没有宽度的限制,利于实现优化布线。; 标准单元库主要包括 与非门、或非门、触发器、锁存器、移位寄存器 加法器、乘法器、除法器、算术运算单元、FIFO等较大规模单元 模拟单元模块:振荡器、比较器等 同一功能的单元有几种不同的类型,视应用不同选择 ; SC方法特点: 需要全套掩膜版,属于定制设计方法 标准单元方法:可变的单元数、压焊块数、通道间距,布局布线的自由度增大 较高???芯片利用率和连线布通率 依赖于标准单元库,SC库建立需较长的周期和较高的成本,尤其工艺更新时。 适用于中批量或者小批量但是性能要求较高的芯片设计; SC方法设计流程;标准单元设计过程;积木块设计方法: BBL方法 (通用单元设计方法); BBL方法特点: 较大的设计自由度 可以在版图和性能上得到最佳的优化 需要全套掩膜版:定制方法。 已有自动布图系统,布图算法发展中: 通道不规则,连线端口在单元四周,位置不规则 ;门阵列设计方法(GA方法);门阵列母片结构;门阵列方法的设计特点:设计周期短,设计成本低,适合设计适当规模、中等性能、要求设计时间短、数量相对较少的电路 不足:设计灵活性较低;门利用率低;芯片面积浪费;可编程逻辑电路设计方法;OUTLINE;布图方法的比较;Full-custom Design Style;Standard Cell Design Style;Gate Array Design Style;FPGA Design Style;不同设计技术的特点及适用情况的综合比较;不同设计技术的特点及适用情况的综合比较;兼容设计方法;OUTLINE;可测性设计技术;可测性设计技术;扫描测试技术; 扫描途径测试技术存在的问题 需要增加控制电路数量和外部引脚,需要将分散的时序元件连在一起,导致芯片面积增加和速度降低; 串行输出结果,测试时间较长。;特征量分析测试技术;自测试技术;作 业

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