科技文獻检索实验报告2.docVIP

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2017-01-15 发布于重庆
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科技文獻检索实验报告2.doc

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科技文獻检索实验报告2

实习报告二 1．出版物（Publication）检索???? （1）利用Springer-Link检索关于Electronic Testing的出版物中有关digital circuit design的论文（列举两篇相关文献） Journal Article Investigations for Minimum Invasion Digital Only Built-In “Ramp” Based Test Techniques for Charge Pump PLLs ...desirable operational and design characteristics, CP-PLL...CRC (clock recovery circuits) and Radio frequency...towards digital only testing of fully embedded... Martin John Burbidge, Frederic Poullet, Jim Tijou and Andrew Richardson Journal of Electronic Testing, 2003, Volume 19, Number 4, Pages 481-490 Download PDF (348.3 KB) Journal Article A Formal Approach to On-Line Monitoring of Digital VLSI Circuits: Theory, Design and Implementation ...tools for the design of digital circuits with on line...design, fabrication, and testing of an ASIC... Santosh Biswas, Siddhartha Mukhopadhyay and Amit Patra Journal of Electronic Testing, 2005, Volume 21, Number 5, Pages 503-537 Download PDF (4.7 MB) （2）利用EBSCO检索IEEE出版物中关于数字电路（digital circuit）的论文（列举两篇相关文献） All-Digital Circuit-Level Dynamic Variation Monitor for Silicon Debug and Adaptive Clock Control.仅详细资料可用 By: Bowman, Keith A.; Tokunaga, Carlos; Tschanz, James W.; Raychowdhury, Arijit; Khellah, Muhammad M.; Geuskens, Bibiche M.; Lu, Shih-Lien L.; Aseron, Paolo A.; Karnik, Tanay; De, Vivek K.. IEEE Transactions on Circuits Systems Part I: Regular Papers, Sep2011, Vol. 58 Issue 9, p2017-2025, 9p; DOI: 10.1109/TCSI.2011.2163893 科目: INTEGRATED circuits; MULTIPLEXING; SILICON; CONVERTERS (Electronics); NOISE; ITERATIVE methods (Mathematics) 数据库: Business Source Premier Voltage and Return Plane Bounce Affecting Digital Components Using Different Printed Circuit Board Edge Termination Methodologies.仅详细资料可用 By: Montrose, Mark I.. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Aug2011, Vol. 53 Issue 3, p802-805, 4p; DOI: 10.1109/TEMC.2011.2141997 科目: DIGITAL electronics; PRINTED circuits; ELECTROMOTIVE force; IMPEDANCE (Electricity); CAPACITORS; ELECTRONIC noise; ELECTR