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連接器性能及測試 认证部 ： 李 德 友 2009.08.10 * 內 容 提 要 連接器常用測試規範 連接器的主要測試項目及目的 认证部对連接器检验标准 * 連接器常用測試規範 常用國際規範 1-1. MIL-STD-1344A (美國軍用規範) 1-2. MIL-STD-202F 1-3. EIA-364C (美國電子工業學會 ) 1-4. IEC-512 (國際電子委員會) * 產品或業界規範 2-1. MIL-STD-24308C For D-SUB CONN. 2-2. PCI,EISA Standard 2-3. IEEE 1394 2-4. PCMCIA. 2-5. EIA-540 BOOO,EIA-540 BAAA for ZIF SOCKET * 連接器的主要測試項目及目的 一. 電氣特性測試 1-1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance) 1-2. 耐電壓測試(Dielectrics Withstanding Voltage) 1-3. 低功率接觸阻抗(LLCR) 1-4. 電容及電感量測(Capacitance Inductance) 1-5. 溫升測試(Temperature Rise) * 二. 機械特性測試 2-1. 單點插入力與拔出力(EngagementSeparation Force) 2-2. 整體插入力與拔出力(MatingUnmating Force) 2-3. 端子保持力(Contact Retention Force) 2-4. 端子正向力(Normal Force) 2-5. 耐久性測試(Durability) * 三. 環境測試 3-1. 鹽水憤霧試驗(Salt spray) 3-2. 耐濕性試驗(Humidity) 3-3. 振動試驗(Vibration) 3-4. 衝擊試驗(Shock) 3-5.熱衝擊試驗(Temperature Cycling or Thermal Shock) 3-6. 高溫壽命試驗(Temperature Life) 3-7. 耐焊錫熱試驗(Resistance To Solder Heat) 3-8. 焊錫性(Solderability) * 1-1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance) 1-1-1. 量測目的:評估連接器之絕緣材料在通過直流電壓后,其表 面產生漏電流狀況,以判定其絕緣程度. 1-1-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3003.1 1-1-3. 量測方法: 1-1-3-1. 測試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子與鐵殼,如果 是同軸連接器則為內部與外部之端子. 1-1-3-2. 測試時間: 2分鐘. 1-1-3-3. 測試電壓: 500Vdc 或特別規定. 一. 電氣特性測試 认证部对連接器检验标准 * 1-2. 耐電壓測試(Dielectrics Withstanding Voltage) 1-2-1. 量測目的:評估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈衝電 壓之安全性,進而評估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間 隔是否適當. 1-2-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3001.1 1-2-3. 量測方法: 1-2-3-1. 量測點為最接近的相鄰兩端子,及shell與最接近 shell的端子間. 1-2-3-2. 測試時間: 1分鐘. 1-2-3-3. 耐壓過程之漏電流除特別規定外,不得超過5mA, 一般以0.5mA為測試需求. * 1-3. 低功率接觸阻抗測試(LLCR) 1-3-1. 量測目的:在不破壞端子表面的氧化薄膜下,測試結合兩端 子間的接觸阻值,以作為連接器端子之總體性評估. 1-3-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3002-1 1-3-3. 量測方法: 1-3-3-1. 以四線量測法量測結合端子之電阻值. 1-3-3-2. 測試電流: 100mA maximum. 1-3-3-3. 開路電壓: 20mV maximum. * 1-