Surface Etching and DNA Damage Induced by Low-Energy Ion Irradiation in Yeast.pdfVIP

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2015-09-04 发布于湖北
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PlasmaScienceandTechnology，Vo1．13，No．3，Jun．2011 SurfaceEtching and DNA Dam ageInduced by Low-Energy Ion Irradiation inYeast LIUXuelan(刘雪兰)，XUAn(许安)。，DAIYin(戴银)，YUANHang(袁航)。 YUZengliang(余增亮)。 KeyLaboratoryofZoonosesofAnhuiProvincejAnhuiAgriculturalUniversity， Hefei230036，China InstituteofPlasmaPhysics，ChineseAcademyofSciences，Hefei230031)China AbstractBio—effectsofsurvivalandetchingdamageoncellsurfaceandDNA strandbreaks wereinvestigatedintheyeastsaccharomycescerevisiaeafterexposurebynitrogenionwithanen— ergYbelow 40keV．Theresultshowedthat16％oftrehaloseprovideddefiniteprotectionforcells againstvacuum stresscomparedwithglycero1．Incontrasttovacuum control，significantmorpho— logicaldamageandDNA strandbreakswereobserved．inyeastcellsbombardedwithlow—energy nitrogen，byscanningelectronmicroscopy (SEM)andterminaldeoxynucleotidyltransferase— mediatedduTPnickendlabeling(TuNEL)immunofluorescenceassays．Moreover，PI(propidium iodide1fluorescentstainingindicatedthatcellintegritycouldbedestroyedbyionirradiation．Cell damageeventually affected cellviabilityandfreeradicalswereinvolved in celldamageasshown byDMsO (dimethyIsulfoxide)rescueexperiment．Ourprimaryexperimentsdemonstratedthat yeastcellscan beused asan optionalexperimenta1modeltostudythebiologicaleffectsoflow energyionsandbeappliedtofurtherinvestigatethemechanism(s)underlyingthebio—effectsof eukaryoticcells． Keywords：low—energynitrogenions，yeast，radiationmodel，damageeffects PACS：41．75．A．C 1 Introduction at30。CinYPDmediumconsistingof1％yeastextract