平面手性二茂铁的高分辨质谱测定.pdfVIP

平面手性二茂铁的高分辨质谱测定’ 辛斌 熊少祥 赵镇文王光辉 中国科学院化学研究所分子科学中心北京质谱中心，北京100080 A,lt 二茂铁及其衍生物是一类重要的衷合物，。过四十多年的发展，其研究和应用愈来愈广 泛和深入0[1平面手性二茂铁作为配体在不对称氢化反应、烷基锌对拨基化合物的烷基化反应、 交又偶联反应、共扼双烯的硅氢化反应、Diels-Alder反应、Aldol反应及环丙烷化反应等中均 具有良好的不对称催化活性和对映选择性2-〔41 工作利用高分辨的傅立叶变换一离子回旋共振质谱 (FT-ICRMS)对一类平面手性二茂 物的分子量进行了测定，并利用多级质谱方式对其进行了分子的碎裂规律研究和结构 分析。宜 实脸部分 仪器型号:美国BrukerDaltonicsInc.,FF-ICRMS，磁场强度B=4.7T 质谱方法:二次离子质谱 (SIMS)(Cs*离子枪，加速电压lOkV)和电喷雾电离 (ESI)(使用 自制毛细管喷雾装置，喷雾电压AV，石英毛细管内径为50}tm，外径为15011m, 溶液流速SOOnumin，无干燥气及辅助气)，多级质谱采用氢气 ((99.99%)为碰撞 气。 样品制备:lmg样品溶于2mL甲醇 (分析纯)。取ILL样品溶液溶于5}LL的甘油 (分析纯) 中(进行SIIv4S测定);取1匹样品溶液溶于50gL的甲醇/水/乙酸((49/49/2,VN) (进行ESI测定)。 结果与讨论 1.此类平面手性二茂铁化合物 (结构见图I)表现出相同的质谱特性，ESI(谱图略)一级 尸一\少 l号 4号:R留翩 呱 玲 R = m - C N P - 呱 炜 卜 F c s =歇 5号:R盆 6号:R.琳 触 0 e 1 R - H c ， 7号:R.腼 仇 l l ， 卜 冈 图.1平面手性二茂铁分子结构示意圈 谱为强的准分子离子峰MH`;SIMS谱(见图2)除同样得到很强的准分子离子外，同时出现 了一些清晰的碎片离子，这是由于SIMS的电离能量比ESI的更高造成的.图I中11个平 一 ::二启倪一it 下 岁 扮 推 一 一 1 1 ﹃ ﹄ ﹄ 卜 卜 ︸ ︸ ︸ 一 . ﹃ 胃 ~ t . . 曲 ﹄ ﹃ 自 ︸ 一 二 1 1 1 1 切 尸 1 ! ‘ 一 加 冲 护 加 仁 加 。 丫 z00 ?SO i11 .,. 礼C 卜 图2平面手性二茂铁分子 ((1号样品)SIMS质谱图 面手性二茂铁化合物都得到了相似的SIMS谱，说明了它们的SIMS谱具有相似的碎裂方式。 产生了基峰强度的 F【eC24H22P]、和很强的[FeC,2H,2]，同时只能观察到较弱的[FeC5H5]和 Fe，这表明了平面二茂铁主体结构的稳定性和取代基的活泼性。-R取代基的引入并没有影 响到平面二茂铁主体结构的稳定性。 2.通过对样品准分子离子进行二级质谱(见图3)和对[FeC24H22P]、(FeC12HI21+和[