SEAM上下表面检测成像系统的实现及实验结果初探.pdfVIP

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第28卷第6期 声学技术 V01.28,No.6Pt.2 2009年12月 TeehniealAcoustics Dec.,2009 SEAM上下表面检测成像系统的实现及实验结果初探 张迪,钱梦脲。 (同济大学声学研究所,上海200092) tothe ofthe Surface PrimaryInvestigationSetup Upper-and-—Lower inSEAMwith Result ImagingSystem Experiment ZHANG Di.QIANMeng—lu· (InstituteofAcoustics,Ton谢iUniversity,Shanghai200092,China) 1引 言 EI●∞砷口岍 1980年,Cargill[1J和Rosencwaig[2]等人分别基 $EW ,-——-——_、 CⅫ 于压电光声显微镜技术的启发发明了扫描电子声显 嬲盈l。鬻. l 微镜,由于它具有的高分辨率(优于0.51an)、能同 l≈☆m.一 l I / 时获得试样表面的二次电子像和亚表面的电子声像 亍’ /。 / 以及试样制备简单等优点,至今已发展成为一种独 ,毒蜮 , 特的材料表征和亚表面成像技术。目前已广泛应用 l晕檀: 于材料分析、残余应力检测、铁电畴结构研究、半 导体掺杂及生物组织试样研究成像等领域中。 本文基于本实验室已建立的扫描电子声显微镜 图lSEAM上下表面成像系统示意图 系统,通过增加耦合在材料表面的PZT检测电子声 Theschematicofthe surface Fig.1 diagramupp日-and-lowcrimaging 效应在试样表面激发的应变场,验证了SEAM上表 inSEAM system 面接收电子声信号的可行性,并得到了一定的实验 本实验系统除了包括传统的SEAM试样背表 结果。 面接收成像外,在试样上表面通过耦合一块环形 2上下表面成像系统的实现 PZT片,上下两路信号经前置放大器进行微信号放

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