基于微机的边界测试主控系统的设计.pdfVIP

第 卷 第 期 华 中 科 技 大 学 学 报（自然科学版） * : J;K * 9; : 年 月 （ ） !! : 0 L?MN;=O P=FQ ;R 5BF S 1CBN 9?E@C 5BFC=BC 4FEF;= 7?A !! 基于微机的边界扫描测试主控系统的设计 张 华 陈朝阳 沈绪榜 ( 华中科技大学图像识别与人工智能研究所 ) 图像信息处理与智能控制教育部重点开放实验室 摘要：分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求，提出了一种基于微机+,- 总线的低 成本边界扫描测试主控系统的硬件设计方案 该系统以 机为平台，以用 器件实现的 主控器生 +, ,+./ 0123 成满足 协议的边界扫描测试信号，并用普通的 实现存储器共享 仿真表明，该系统产生的 -444##)’ # 5627 测试信号完全满足 协议的时序要求，可用于 或 的边界扫描测试，以及进行边界扫描测试 -444##)’ # -, +,8 的研究和实验 关 键 词：边界扫描测试； 主控器；集成电路测试； ； 0123 +,- ,+./ 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： （ ） 19)( 2 #%(#$):#! !! :$!!$* 边界扫描测试（ ）技术 851$8;=?@A 5B?= 1CDE 是一种可测性设计技术，其基本思想是在集成电 ! 功能需求 路的边界（引脚）上增加附加的串行扫描单元，从 而实现器件引脚状态的完全可控和完全可观测 -444##)’ # 标准规定的边界扫描测试受控 与之相应的工业标准为 系列标准 该 系统的体系结构包括四个测试访问端口（又称 -444##)’ # ［］ 技术为芯片的集成度提高带来的芯片和电路板的 * 接口） ：测试数据输入端口 ，测试数据 0123 1/- 测试难题提供了一种有效且低成本的解决方 输出端口1/H，测试时钟 1,I，测试方式选择 ［］ 法 # 从 （ ）提出该技术 0123 0;F=E 1CDE 2BEF;= 3@;G 175 主要硬件单元为12+ 控制器，指令寄存器， 至今的十几年中，边界扫描测试技术在国外已得 边界扫描寄存器及旁路寄存器 可选的有测试复