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芯片测试工程师职业资格认证考试题
一、单选题(共5题,每题2分,总计10分)
1.在芯片测试过程中,以下哪项是ATE(自动测试设备)的核心功能?
A.芯片设计
B.测试程序编写
C.自动化测试执行
D.芯片封装
2.对于高性能处理器芯片,以下哪项测试指标通常最为关键?
A.电压容差
B.功耗效率
C.峰值频率
D.低温存储稳定性
3.在半导体测试领域,边界扫描测试(BoundaryScanTesting)主要用于解决哪种问题?
A.内部短路
B.信号完整性
C.I/O引脚故障
D.时序违规
4.以下哪种测试方法
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