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芯片测试中的故障诊断与处理.docx

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    芯片测试中的故障诊断与处理

    一、单选题（每题2分，共20题）

    1.在芯片测试过程中，以下哪种方法不属于静态测试的范畴？

    A.功能测试

    B.逻辑分析仪分析

    C.压力测试

    D.时序测试

    2.当芯片测试中发现某个引脚的电压异常，初步判断故障原因时，首先应检查的是？

    A.测试夹具的连接

    B.测试程序的正确性

    C.芯片的内部结构

    D.供电电源的稳定性

    3.在进行芯片的边界扫描测试时，主要目的是？

    A.测试芯片的功耗

    B.检查芯片的时序特性

    C.发现芯片的物理损坏

    D.验证芯片的接口通信能力

    4.芯片测试中，以下哪种工具主要用

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