不同钯层厚度的镀钯铜线基本性能与成球形貌研究.pdf

不同钯层厚度的镀钯铜线基本性能与成球形貌研究.pdf

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

摘要

键合线作为连接芯片和引线框架的关键部分,是半导体集成电路、分立器件、

传感器、光电子等封装工艺中不可或缺的基础材料,其质量与封装的质量直接相

关。随着电子产品向更高性能、更小型化、更低成本的方向发展,微电子封装面

临的技术挑战也日益增加。近年来,金的价格大幅上涨,使得以金为主要材料的

键合线成本持续升高;银线存在易氧化、银离子迁移的问题;Al线因其机械性能

差,高温易氧化,性能不稳定等问题难以在微电子封装中大规模使用;铜线首先

具有成本优势,其次铜具有比金更低的电阻率,更高的导热率和成弧

文档评论(0)

dongbuzhihui + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档