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西安科技大学

2008年入学考试试题(A)

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科目编号:820科目名称:器件

考生须知:

1、答案必须写在答题纸上,写在试题或草稿纸上不给分。

2、答题须用蓝、黑色钢笔或圆珠笔,用铅笔、红色笔者不给分。

3、答题必须写清题号,字迹要清楚,卷面要保持整洁。

4、试题要随答题纸一起交回。

一、单项选择题(每小题1.5分,共15分)

1.在相同的温度下,已知X的禁带宽度比Y的大,如果两种半

导体的本征激发载流子浓度分别是n和n,则()。

XY

A、nn;B、nn;C、nn;

XYXYXYD、不确定。

2、若在纯硅晶体中,掺入硼和磷两种杂质,如果掺入硼的浓度较小,则这种

是()。

A、P型;B、N型;

C、本征;D、不确定。

3、在中,能量最低的那个空带,又称为()。

A、导带B、价带C、禁带D、满带

4、PN结中,内建场的方向是()。

A、P到N;B、N到P;C、不能确定。

5、晶体管共射电流放大系数随着基区宽度的增加而()。

A、减小;B、增大;C、不变;D、不能确定。

)。

6、PN结击穿电压随着掺杂浓度的增加而(

A、增、减小;C、不变;D、不能确定。

7、抑制晶体管电流集中二次击穿的有效措施是()。

A、极串入镇流电阻;B、增加区杂质浓度;

C、减小基区杂质浓度;D、增加集电区杂质浓度;

8、如果N沟耗尽型MOS场效应晶体管的栅源电压为零,当漏源间加上正电

压时,通过漏源的电流()。

A、为零;B、较大;C、与漏源电压成反比。

9、N沟增强型MOS晶体管的阈值(开启)电压随衬底掺杂浓度的增加而

()。

A、减小;B、增大;C、不变;D、不能确定。

10、N沟增强型MOS管的工作于饱和区的条件是(

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