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硬件信号质量SI测试规范

1引言4

2适用范畴4

3信号质量测试概述4

3.1信号完整性4

3.2信号质量5

4信号质量测试条件10

4.1单板/系统工作条件：10

4.2信号质量测试人员要求：10

4.3示波器选择与使用要求：10

4.4探头选择与使用要求11

4.5测试点的选择11

5信号质量测试通用标准12

5.1信号电平简述：12

5.2合格标准13

5.3信号质量测试结果分析注意事项15

6信号质量测试方法16

6.1电源信号质量测试16

6.1.1简述16

6.1.2测试项目16

6.1.3测试方法16

6.2时钟信号质量测试23

6.2.1简述23

6.2.2测试方法23

6.2.3测试指标与合格标准23

6.2.4注意事项24

6.3复位信号质量测试26

6.3.1简述26

6.3.2测试方法26

6.3.3测试项目与合格标准26

6.3.4注意事项27

6.3.5测试示例27

6.4数据、地址信号质量测试30

6.4.1简述30

6.4.2测试方法30

6.4.3测试项目30

6.4.4测试示例：31

6.5差分信号质量测试32

6.5.1简述32

6.5.2测试项目32

6.5.3测试方法32

6.5.4合格标准33

6.5.5注意事项35

6.5.6测试示例35

6.6串行信号质量测试36

6.6.1概述36

6.6.2测试项目37

6.6.3测试方法37

6.6.4合格标准38

7信号质量测试Checklist41

8测试系统接地讲明43

9引用标准和参考资料错误!未定义书签。

信号质量测试规范

关键词：信号完整性、测试

摘要：本规范详细讲明了单板信号质量测试的方法。其中包括各类信号波形参数的定义，进行信号质量测试的条件，覆盖范畴，合格标准，

信号分类，各类信号波形参数的指标，测试点的选择以及测试结果分析重点。

缩略语清单：

SI

SignalIntegrity

信号完整性

TTL

Transistor-TransistorLogic

晶体管-晶体管逻辑

CMOS

ComplementaryMetalOxideSemicondutor

互补金属氧化物半导体

LVTTL

LowVoltageTTL

低电压TTL

LVCMOS

LowVoltageCMOS

低电压CMOS

ECL

EmitterCoupledLogic

发射极耦合逻辑

PECL

Pseudo/PositiveEmitterCoupledLogic

伪发射极耦合逻辑

LVDS

LowVoltageDifferentialSignaling

低电压差分信号

GTL

GunningTransceiverLogic

射电收发逻辑

HSTL

High-SpeedTransceiverLogic

高速收发器逻辑

eHSTL

EnhancedHigh-SpeedTransceiverLogic

增强高速收发器逻辑

dHSTL

DifferentialHSTL

差分HSTL

SSTL

StubSeries-terminatedLogic

线脚系列终端逻辑

SPI

SerialPeripheralInterface

串行外围接口

I2C

InterIntegratedCircuitBus

内部集成电路总线

USB

UniversalSerialBus

通用串行总线

引言

《信号质量测试规范》是为了规范和指导硬件调试、硬件测试以及生产测试时信号质量测试方法及手段，在总结长期实际工作体会的基础上制定的。

由于某些缘故的限制，本规范难免会存在着一些纰漏。我们实际使用、遵循规范的过程，也是一个检验和完善规范的过程。期望大伙儿能主动的提出宝贵意见及见解，以保持该规范的的可操作性，推动我司规范性文档的建设进程。

适用范畴

本规范作为研发、中试进行信号质量测试的共同标准。

本规范适用所有数字信号的调试、测试过程。测试时应覆盖各个功能模块，包括电源、时钟、复位电路、CPU最小系统、外部接口(E1、网口、串口等等)、逻辑芯片(CPLD/FPGA)、专用电路等等。

模拟电路由于其信号的